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测试和检验
基于线性解压结构的低功耗测试方法研究
数字集成电路中的老化故障防护系统研究
多核处理器可测性设计及其ATE实现
三维嵌入式芯核测试外壳优化方法
基于逻辑测试的硬件木马检测方法研究
基于区域分割和自测向量生成技术的硬件木马检测方法
考虑功耗的集成电路老化缓解技术的研究
基于芯片SLTS接口的测试逻辑电路设计
NoC中测试调度与NI可靠性研究
板级电路内建自测试技术研究
面向集成电路封装过程的监测方法研究与系统实现
新型反熔丝器件可靠性评价技术研究
基于ATE多通道射频接收芯片测试研究
基于UVM的MC-SOC中可重用验证平台的设计与实现
集成电路测试系统码型文件解析软件设计
IGBT基于故障物理的失效分析及电子器件加速寿命模型的研究
基于PTM的集成电路可靠性评估方法研究
IC测试仪数字通道板设计及同步技术研究
数字IC测试仪仪器驱动程序与指令微处理器设计
集成电路芯片硬件缺陷分类算法研究
硬件木马检测方法研究
3D-IC中TSV的冗余布局与可测性结构优化方法研究
数据处理模块故障诊断系统的设计与实现
SMT封装电路板缺陷三维在线检测技术
基于内聚力模型的表面波无损表征Low-k薄膜的粘附性研究
基于C#的多功能专用芯片可靠性自动测试系统
基于门级网表的硬件木马检测技术研究
数字类型的硬件木马设计实现与分析
基于UVM架构的EHCI验证环境研究与开发
系统级测试性设计优化方法与实现
基于模糊设计的病毒生成技术研究
基于JTAG接口电路测试系统的上位机软件设计与实现
关于芯片测试良品率和测试时间的优化研究
IC自动测试系统中精密测量单元的设计与实现
IC测试系统中时间参数测量单元的研究
VLSI测试压缩技术下的FPGA仿真研究
某电路板级测试与故障诊断平台系统设计及应用
基于模拟IC自动测试仪的任意波形发生器设计与实现
基于扫描的耗时少低功耗的可测试性技术研究
对高K金属栅极CMOS老化测试的研究
不同模型检测下信号并串转换模块功能建模的研究
射频芯片自动测试系统设计与实现
数模混合电路嵌入式测试技术研究
面向集成电路封装的有限角度下X-Ray图像重建
基于拓扑结构分析的小时延缺陷测试通路选择方法研究
基于电力载波通信芯片的低功耗扫描测试设计与实现
基于无线通信SoC芯片功能验证的研究
基于电力载波通信芯片的数字模块可测性分析和优化
基于高压浮栅驱动芯片抗噪能力测试的噪声信号源设计
基于翻转概率分析的加速硬件木马检测技术研究
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