数字IC测试仪仪器驱动程序与指令微处理器设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状及发展趋势 | 第10-12页 |
| 1.3 本文研究内容及结构安排 | 第12-14页 |
| 第二章 数字IC测试仪原理结构及分析 | 第14-22页 |
| 2.1 数字IC测试仪结构及原理 | 第14-15页 |
| 2.2 仪器驱动程序设计方案 | 第15-18页 |
| 2.3 微处理器实现方案 | 第18-21页 |
| 2.4 本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 数字IC测试仪仪器驱动程序设计 | 第22-40页 |
| 3.1 日志层实现 | 第22-23页 |
| 3.2 芯片控制层实现 | 第23-24页 |
| 3.3 仪器功能层实现 | 第24-39页 |
| 3.3.1 流程控制 | 第24-25页 |
| 3.3.2 数据下发 | 第25-32页 |
| 3.3.3 数据校准 | 第32-33页 |
| 3.3.4 数据回读 | 第33-36页 |
| 3.3.5 数据格式转换 | 第36-39页 |
| 3.4 本章小结 | 第39-40页 |
| 第四章 指令微处理器的设计与实现 | 第40-60页 |
| 4.1 指令系统分析 | 第40-47页 |
| 4.1.1 指令的功能 | 第40-41页 |
| 4.1.2 指令的组成 | 第41-44页 |
| 4.1.3 第二源操作数为向量数据的指令格式 | 第44-47页 |
| 4.1.4 第二源操作数为向量地址的指令格式 | 第47页 |
| 4.2 微处理器结构设计 | 第47-57页 |
| 4.2.1 总体结构设计 | 第48-49页 |
| 4.2.2 寄存器设计 | 第49-51页 |
| 4.2.3 指令执行的实现 | 第51-57页 |
| 4.3 时序控制 | 第57-59页 |
| 4.4 本章小结 | 第59-60页 |
| 第五章 驱动工作测试及微处理器仿真测试 | 第60-71页 |
| 5.1 测试平台搭建 | 第60-61页 |
| 5.2 驱动工作测试 | 第61-63页 |
| 5.3 微处理器仿真测试 | 第63-67页 |
| 5.4 微处理器实际工作测试 | 第67-68页 |
| 5.5 数字IC测试仪整机工作测试 | 第68-71页 |
| 第六章 总结与展望 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-75页 |
| 攻读硕士期间取得的学习成果 | 第75页 |
