板级电路内建自测试技术研究
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
第1章 绪论 | 第9-15页 |
1.1 课题研究的背景和意义 | 第9-10页 |
1.2 可测性设计技术概述 | 第10-11页 |
1.3 内建自测试原理 | 第11-12页 |
1.4 内建自测试研究现状 | 第12-13页 |
1.5 本文主要研究内容 | 第13-15页 |
第2章 基于边界扫描的数字电路内建自测试技术 | 第15-31页 |
2.1 边界扫描测试的基本原理 | 第15-16页 |
2.2 边界扫描机制的体系结构 | 第16-21页 |
2.2.1 TAP控制器 | 第17-18页 |
2.2.2 边界扫描数据寄存器 | 第18-19页 |
2.2.3 边界扫描单元 | 第19-20页 |
2.2.4 边界扫描指令寄存器和指令集 | 第20-21页 |
2.3 边界扫描内建自测试基本结构及应用 | 第21-24页 |
2.3.1 边界扫描内建自测试基本结构 | 第21-22页 |
2.3.2 边界扫描完备性测试 | 第22页 |
2.3.3 边界扫描内部功能测试 | 第22-23页 |
2.3.4 边界扫描外部互连测试 | 第23页 |
2.3.5 边界扫描簇测试 | 第23-24页 |
2.4 边界扫描互连故障诊断研究 | 第24-30页 |
2.4.1 互连故障模型 | 第24页 |
2.4.2 边界扫描互连故障诊断基本概念 | 第24-26页 |
2.4.3 常规的故障诊断算法 | 第26-27页 |
2.4.4 改进的故障诊断算法 | 第27-30页 |
2.5 本章小结 | 第30-31页 |
第3章 模拟电路内建自测试研究 | 第31-45页 |
3.1 模拟电路内建自测试基本结构 | 第31-32页 |
3.2 模拟电路内建自测试可测性分析 | 第32-42页 |
3.2.1 可测性分析指标 | 第33页 |
3.2.2 电路DES建模 | 第33-35页 |
3.2.3 基于DES模型可测性分析 | 第35-40页 |
3.2.4 可测性分析实验研究 | 第40-42页 |
3.3 模拟电路内建自测试故障诊断 | 第42-44页 |
3.3.1 故障字典法 | 第42页 |
3.3.2 基于DES模型故障诊断 | 第42-43页 |
3.3.3 DES模型结合故障字典的故障诊断方法 | 第43-44页 |
3.4 本章小结 | 第44-45页 |
第4章 内建自测试实物平台硬件设计 | 第45-59页 |
4.1 总体硬件电路设计 | 第45-46页 |
4.2 内建自测试核心控制器 | 第46-47页 |
4.3 边界扫描内建自测试设计 | 第47-50页 |
4.3.1 测试总线控制器LVT8980简介 | 第48-49页 |
4.3.2 边界扫描总线控制器硬件连接 | 第49-50页 |
4.4 模拟电路内建自测试硬件设计 | 第50-56页 |
4.4.1 可测性设计和可测性分析 | 第50-53页 |
4.4.2 测试激励电路 | 第53页 |
4.4.3 A/D转换电路 | 第53-55页 |
4.4.4 多路模拟开关 | 第55-56页 |
4.5 系统输入输出硬件设计 | 第56-58页 |
4.5.1 键盘输入硬件设计 | 第56-57页 |
4.5.2 液晶显示硬件设计 | 第57-58页 |
4.6 本章小结 | 第58-59页 |
第5章 实物平台软件设计及实验结果 | 第59-75页 |
5.1 内建自测试总体软件设计 | 第59-60页 |
5.2 DSP初始化和自检程序设计 | 第60-61页 |
5.3 系统输入输出程序设计 | 第61-64页 |
5.3.1 键盘输入程序设计 | 第61-63页 |
5.3.2 液晶显示程序设计 | 第63-64页 |
5.4 边界扫描测试程序设计 | 第64-70页 |
5.4.1 LVT8980操作程序设计 | 第64-66页 |
5.4.2 边界扫描指令实现程序设计 | 第66-67页 |
5.4.3 测试程序设计及实验结果 | 第67-70页 |
5.5 模拟电路故障诊断程序设计及实验结果 | 第70-74页 |
5.5.1 A/D采集数据程序设计 | 第71-72页 |
5.5.2 故障诊断程序设计及实验结果 | 第72-74页 |
5.6 本章小结 | 第74-75页 |
结论 | 第75-76页 |
参考文献 | 第76-79页 |
附录 | 第79-80页 |
攻读学位期间发表的学术论文 | 第80-82页 |
致谢 | 第82页 |