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板级电路内建自测试技术研究

摘要第4-5页
Abstract第5页
第1章 绪论第9-15页
    1.1 课题研究的背景和意义第9-10页
    1.2 可测性设计技术概述第10-11页
    1.3 内建自测试原理第11-12页
    1.4 内建自测试研究现状第12-13页
    1.5 本文主要研究内容第13-15页
第2章 基于边界扫描的数字电路内建自测试技术第15-31页
    2.1 边界扫描测试的基本原理第15-16页
    2.2 边界扫描机制的体系结构第16-21页
        2.2.1 TAP控制器第17-18页
        2.2.2 边界扫描数据寄存器第18-19页
        2.2.3 边界扫描单元第19-20页
        2.2.4 边界扫描指令寄存器和指令集第20-21页
    2.3 边界扫描内建自测试基本结构及应用第21-24页
        2.3.1 边界扫描内建自测试基本结构第21-22页
        2.3.2 边界扫描完备性测试第22页
        2.3.3 边界扫描内部功能测试第22-23页
        2.3.4 边界扫描外部互连测试第23页
        2.3.5 边界扫描簇测试第23-24页
    2.4 边界扫描互连故障诊断研究第24-30页
        2.4.1 互连故障模型第24页
        2.4.2 边界扫描互连故障诊断基本概念第24-26页
        2.4.3 常规的故障诊断算法第26-27页
        2.4.4 改进的故障诊断算法第27-30页
    2.5 本章小结第30-31页
第3章 模拟电路内建自测试研究第31-45页
    3.1 模拟电路内建自测试基本结构第31-32页
    3.2 模拟电路内建自测试可测性分析第32-42页
        3.2.1 可测性分析指标第33页
        3.2.2 电路DES建模第33-35页
        3.2.3 基于DES模型可测性分析第35-40页
        3.2.4 可测性分析实验研究第40-42页
    3.3 模拟电路内建自测试故障诊断第42-44页
        3.3.1 故障字典法第42页
        3.3.2 基于DES模型故障诊断第42-43页
        3.3.3 DES模型结合故障字典的故障诊断方法第43-44页
    3.4 本章小结第44-45页
第4章 内建自测试实物平台硬件设计第45-59页
    4.1 总体硬件电路设计第45-46页
    4.2 内建自测试核心控制器第46-47页
    4.3 边界扫描内建自测试设计第47-50页
        4.3.1 测试总线控制器LVT8980简介第48-49页
        4.3.2 边界扫描总线控制器硬件连接第49-50页
    4.4 模拟电路内建自测试硬件设计第50-56页
        4.4.1 可测性设计和可测性分析第50-53页
        4.4.2 测试激励电路第53页
        4.4.3 A/D转换电路第53-55页
        4.4.4 多路模拟开关第55-56页
    4.5 系统输入输出硬件设计第56-58页
        4.5.1 键盘输入硬件设计第56-57页
        4.5.2 液晶显示硬件设计第57-58页
    4.6 本章小结第58-59页
第5章 实物平台软件设计及实验结果第59-75页
    5.1 内建自测试总体软件设计第59-60页
    5.2 DSP初始化和自检程序设计第60-61页
    5.3 系统输入输出程序设计第61-64页
        5.3.1 键盘输入程序设计第61-63页
        5.3.2 液晶显示程序设计第63-64页
    5.4 边界扫描测试程序设计第64-70页
        5.4.1 LVT8980操作程序设计第64-66页
        5.4.2 边界扫描指令实现程序设计第66-67页
        5.4.3 测试程序设计及实验结果第67-70页
    5.5 模拟电路故障诊断程序设计及实验结果第70-74页
        5.5.1 A/D采集数据程序设计第71-72页
        5.5.2 故障诊断程序设计及实验结果第72-74页
    5.6 本章小结第74-75页
结论第75-76页
参考文献第76-79页
附录第79-80页
攻读学位期间发表的学术论文第80-82页
致谢第82页

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