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测试和检验
一种基于物联网智能节点芯片的仿真验证
基于嵌入式技术的SIP专用芯片测试平台研究
UVM验证平台自动生成及代码复用技术研究
低电压SRAM内建自测试电路技术研究与实现
基于量子点的液相芯片检测关键技术研究及其系统研制
基于MTM总线的数模混合信号机内自检测研究
基于AES算法硬件木马的检测系统设计与验证
锁相环电路的可测性设计研究
数字集成电路测试压缩与时延测试技术研究
工艺偏差对硬件木马检测的影响及校正算法研究
基于门级电路结构特征的硬件木马检测方法研究
多制式视频处理芯片通用测试平台的研究与设计
基于FDR编码的数字电路测试压缩方法研究
变换编码在测试压缩中的应用研究
基于Hadamard变换的编码压缩及其主成分增强技术
3D芯片良率与测试成本研究
集成电路生产外包过程中的安全问题研究
一种基于延时电路的PUF设计及其核心特性预测的研究
功耗约束下的三维芯片测试成本优化方法研究
微流体分布式压力测量方法研究
三维集成电路片间传输线测试方法研究
三维芯片测试成本优化研究
基于SOPC技术芯片自动测试系统的设计与实现
基于小波降噪数据预处理的硬件木马检测优化
基于HMM的硬件木马检测技术研究
基于边界扫描技术的自适应测试算法及实现的研究
基于UVM的以太网PHY自动协商电路验证方法学研究
片上追踪信息处理单元的研究与验证
基于UVM的SM4算法模块验证研究
基于PCI Express接口的验证平台研究与验证
基于UVM的SDRAM控制器验证方法研究
基于断言的形式化验证与UVM的综合应用
基于相邻位逻辑运算的相对游程长度的编码方案研究
PMIC自动化测试平台的设计与实现
多次随机变换拆分测试激励压缩方法研究
FTTx系统中ONU芯片自动化测试研究
时延测试向量产生方法的研究
多扫描链测试数据压缩方法研究
基于向量分解的测试向量压缩方法研究
基于测试响应填充技术的测试数据压缩方法研究
基于SoC芯片的RAM内建自测试设计
基于UVM的Flash控制器模块验证
MCU的ESD测试方法改进及其IO防护设计研究
基于LabVIEW的加载板自动测试系统的应用研究
低熔点合金储热性能的实验测量和仿真
DC-DC Buck芯片ATE测试中的Trim技术研究
三维集成电路绑定前硅通孔测试技术研究
伺服控制系统SOC芯片功能分析及测试的研究
温度与误码率敏感的3D IC测试与DVFS技术研究
面向退化效应的组合电路测试通路选择算法研究
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