基于PTM的集成电路可靠性评估方法研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-16页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第9-11页 |
| 1.1.1 研究背景 | 第9-10页 |
| 1.1.2 研究意义 | 第10-11页 |
| 1.2 集成电路可靠性研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3 本文的工作及创新点 | 第13-14页 |
| 1.3.1 本文的主要工作 | 第13-14页 |
| 1.3.2 本文的创新点 | 第14页 |
| 1.4 本文的章节安排 | 第14-16页 |
| 第二章 相关理论 | 第16-25页 |
| 2.1 可靠性概念及其发展 | 第16页 |
| 2.2 影响电路可靠度的因素 | 第16-18页 |
| 2.3 电路可靠性设计 | 第18-20页 |
| 2.4 PTM方法 | 第20-23页 |
| 2.4.1 PTM基本定义 | 第20-21页 |
| 2.4.2 PTM运算规则 | 第21页 |
| 2.4.3 PTM方法计算流程 | 第21-23页 |
| 2.5 半张量积 | 第23-24页 |
| 2.6 本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 时序电路可靠性评估方法的比较研究 | 第25-35页 |
| 3.1 逻辑级时序电路的可靠性评估方法 | 第25-30页 |
| 3.1.1 逻辑级的模拟方法 | 第25-26页 |
| 3.1.2 逻辑级的解析方法 | 第26-30页 |
| 3.2 系统级时序电路的可靠性评估方法 | 第30-31页 |
| 3.2.1 系统级的故障注入法 | 第30-31页 |
| 3.2.2 系统级的模型解析法 | 第31页 |
| 3.3 实验分析 | 第31-34页 |
| 3.4 本章小结 | 第34-35页 |
| 第四章 基于差错概率传播模型的电路可靠性评估方法 | 第35-45页 |
| 4.1 差错概率传播模型相关定义 | 第35-36页 |
| 4.2 基于差错概率传播模型的电路可靠度计算 | 第36-40页 |
| 4.3 实验分析 | 第40-44页 |
| 4.3.1 与串行计算方法比较 | 第40-41页 |
| 4.3.2 与MonteCarlo方法比较 | 第41-42页 |
| 4.3.3 与美国军标比较 | 第42-44页 |
| 4.4 本章小结 | 第44-45页 |
| 第五章 考虑导线故障概率的电路可靠性评估方法 | 第45-50页 |
| 5.1 导线故障概率的PTM模型 | 第45-46页 |
| 5.2 考虑导线失效率的计算方法 | 第46-48页 |
| 5.3 实验分析 | 第48-49页 |
| 5.4 本章小结 | 第49-50页 |
| 第六章 总结和展望 | 第50-52页 |
| 6.1 工作总结 | 第50页 |
| 6.2 展望 | 第50-52页 |
| 参考文献 | 第52-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
| 攻读学位期间的研究成果 | 第56-57页 |
