| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 目录 | 第8-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10-12页 |
| 1.2 有限角度下 X-Ray 图像重建的发展现状 | 第12-15页 |
| 1.3 论文的研究内容及章节安排 | 第15-18页 |
| 第二章 面向集成电路封装的 X-Ray 图像重建理论知识 | 第18-26页 |
| 2.1 图像重建的理论基础 | 第18-22页 |
| 2.1.1 图像重建的物理原理 | 第18-19页 |
| 2.1.2 Radon 变换与 Radon 反变换 | 第19-21页 |
| 2.1.3 傅里叶中心切片定理 | 第21页 |
| 2.1.4 图像离散化 | 第21-22页 |
| 2.2 投影系数的定义及计算 | 第22-24页 |
| 2.3 正则化方法在图像重建问题中的应用 | 第24-25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 面向集成电路封装的角度稀疏型图像重建 | 第26-46页 |
| 3.1 面向集成电路封装的角度稀疏型投影数据下的重建模型 | 第26-27页 |
| 3.2 重建模型的求解 | 第27-29页 |
| 3.2.1 POCS-TV 算法 | 第27-28页 |
| 3.2.2 POCS 阶段与 TV 阶段平衡因子的改进 | 第28-29页 |
| 3.3 变分不等式 | 第29-30页 |
| 3.4 变分不等式的求解 | 第30-34页 |
| 3.4.1 投影算法 | 第30-32页 |
| 3.4.2 图像平滑 | 第32-33页 |
| 3.4.3 算法总流程 | 第33-34页 |
| 3.4.4 迭代的停止条件 | 第34页 |
| 3.4.5 参数的选择 | 第34页 |
| 3.5 模拟投影数据重建 | 第34-44页 |
| 3.5.1 无噪声投影数据下的重建结果 | 第36-37页 |
| 3.5.2 含噪声投影数据下的重建结果 | 第37-39页 |
| 3.5.3 算法重建质量的分析及比较 | 第39-43页 |
| 3.5.4 算法重建速度的分析及比较 | 第43-44页 |
| 3.6 角度稀疏型投影数据下电容断层切片的重建 | 第44-45页 |
| 3.7 本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 面向集成电路封装的角度受限型图像重建 | 第46-65页 |
| 4.1 面向集成电路封装的角度受限型投影数据下的初始重建模型 | 第46页 |
| 4.2 初始模型的模拟投影数据重建 | 第46-51页 |
| 4.2.1 无噪声投影数据下的重建结果 | 第47-48页 |
| 4.2.2 含噪声投影数据下的重建结果 | 第48-49页 |
| 4.2.3 重建质量的分析 | 第49-51页 |
| 4.3 面向集成电路封装的角度受限型投影数据下的重建模型的改进 | 第51页 |
| 4.4 改进模型的求解 | 第51-55页 |
| 4.4.1 软阈值滤波算法 | 第52-53页 |
| 4.4.2 混合算法 | 第53-55页 |
| 4.5 改进模型的模拟投影数据重建 | 第55-63页 |
| 4.5.1 无噪声投影数据下的重建结果 | 第55-57页 |
| 4.5.2 含噪声投影数据下的重建结果 | 第57-58页 |
| 4.5.3 重建质量的分析 | 第58-63页 |
| 4.6 角度受限型投影数据下电容断层切片的重建 | 第63-64页 |
| 4.7 本章小结 | 第64-65页 |
| 第五章 总结与展望 | 第65-68页 |
| 5.1 总结 | 第65-66页 |
| 5.2 展望 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-73页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 附件 | 第75页 |
