摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6页 |
第一章 绪论 | 第9-15页 |
1.1 引言 | 第9页 |
1.2 课题的背景与意义 | 第9-11页 |
1.2.1 高压浮栅驱动芯片的发展背景 | 第9页 |
1.2.2 高压浮栅驱动芯片抗噪能力测试技术的研究意义 | 第9-11页 |
1.3 国内外研究及发展现状 | 第11-13页 |
1.3.1 脉冲技术研究现状 | 第11-12页 |
1.3.2 控制信号技术研究现状 | 第12-13页 |
1.4 本文研究的目的和主要内容 | 第13页 |
1.5 本章小结 | 第13-15页 |
第二章 噪声脉冲发生电路的理论研究 | 第15-23页 |
2.1 脉冲技术原理 | 第15-17页 |
2.1.1 单开关管脉冲成形电路分析 | 第15-16页 |
2.1.2 多开关管串联脉冲成形电路分析 | 第16-17页 |
2.1.3 Marx电路 | 第17页 |
2.2 Marx电路理论 | 第17-20页 |
2.2.1 电路传统结构 | 第17-18页 |
2.2.2 Marx电路充放电过程分析 | 第18-20页 |
2.3 Marx电路功率开关器件 | 第20-22页 |
2.3.1 功率MOSFET原理 | 第20-21页 |
2.3.2 MOSFET的主要参数 | 第21-22页 |
2.3.3 功率MOSFET工作特性 | 第22页 |
2.4 本章小结 | 第22-23页 |
第三章 噪声脉冲发生电路整体设计 | 第23-33页 |
3.1 基本电路 | 第23-28页 |
3.1.1 主电路的组成 | 第23-24页 |
3.1.2 开关器件MOSFET的选择 | 第24-25页 |
3.1.3 主体Marx电路设计 | 第25-28页 |
3.2 MOSFET驱动电路研究 | 第28-32页 |
3.2.1 驱动电路设计要求 | 第29页 |
3.2.2 驱动电路设计参数 | 第29-30页 |
3.2.3 驱动信号的电气隔离 | 第30页 |
3.2.4 驱动电路供电 | 第30-31页 |
3.2.5 驱动电路整体设计 | 第31-32页 |
3.3 脉冲低电平模块设计 | 第32页 |
3.4 本章小结 | 第32-33页 |
第四章 脉冲发生电路特性研究及电路结构优化 | 第33-43页 |
4.1 电容对充放电特性的影响 | 第33-36页 |
4.1.1 电容完全充放电模式下的研究 | 第33-34页 |
4.1.2 电容不完全充放电模式下的研究 | 第34-36页 |
4.1.3 两种模式的对比 | 第36页 |
4.2 脉冲整形电路 | 第36-38页 |
4.2.1 脉冲整形理论分析 | 第36-37页 |
4.2.2 LC整形电路的仿真及参数确定 | 第37-38页 |
4.3 输出负载的影响 | 第38页 |
4.4 脉冲调制 | 第38-40页 |
4.4.1 脉冲幅度调制 | 第38-39页 |
4.4.2 脉冲宽度调制及并联电压补偿网络 | 第39-40页 |
4.5 脉冲低电平模块仿真及结构优化 | 第40-42页 |
4.6 本章小结 | 第42-43页 |
第五章 系统实现与测试结果 | 第43-53页 |
5.1 控制信号电路设计思路 | 第43页 |
5.2 控制信号电路的总体规划 | 第43-44页 |
5.3 外设电路及程序设计 | 第44-46页 |
5.3.1 输入外设原理 | 第44-45页 |
5.3.2 显示外设原理 | 第45-46页 |
5.3.3 外设部分程序 | 第46页 |
5.4 基于Quartus Ⅱ开发环境的FPGA设计 | 第46-49页 |
5.4.1 Quartus Ⅱ开发软件简介 | 第46-47页 |
5.4.2 Quartus Ⅱ设计流程 | 第47页 |
5.4.3 Quartus Ⅱ的宏功能模块及PLL锁相环 | 第47-48页 |
5.4.4 控制信号电路主程序仿真 | 第48页 |
5.4.5 程序的下载配置 | 第48-49页 |
5.5 测试系统输出结果 | 第49-52页 |
5.5.1 系统搭建及测试环境 | 第49-50页 |
5.5.2 系统输出结果 | 第50-52页 |
5.6 本章小结 | 第52-53页 |
第六章 总结与展望 | 第53-55页 |
6.1 总结 | 第53-54页 |
6.2 展望 | 第54-55页 |
致谢 | 第55-57页 |
参考文献 | 第57-59页 |