基于UVM架构的EHCI验证环境研究与开发
摘要 | 第5-6页 |
abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-15页 |
1.1 IC验证方法发展简介 | 第10-11页 |
1.2 传统的EHCI验证 | 第11-13页 |
1.2.1 基于Verilog的RTL级验证 | 第11-12页 |
1.2.2 基于FPGA平台的仿真测试 | 第12-13页 |
1.3 EHCI完整功能验证必要性 | 第13页 |
1.4 本论文的意义 | 第13页 |
1.5 本论文主要内容 | 第13-15页 |
第二章 随机验证法概述 | 第15-20页 |
2.1 高级验证语言SYSTEM VERILOG | 第15-16页 |
2.2 基于OOP的验证方法学 | 第16-18页 |
2.3 AIP(ASSERTION IP) | 第18页 |
2.4 VIP(VERIFICATION IP) | 第18-19页 |
2.5 本章小结 | 第19-20页 |
第三章 EHCI验证环境规划 | 第20-28页 |
3.1 EHCI主机控制器规格 | 第20-25页 |
3.1.1 USB2.0 标准规范 | 第20-22页 |
3.1.2 AXI总线规范 | 第22-23页 |
3.1.3 AHB总线规范 | 第23页 |
3.1.4 EHCI控制器规格 | 第23-25页 |
3.2 编写EHCI功能测试点 | 第25-27页 |
3.3 EHCI验证环境规划 | 第27页 |
3.4 规划EHCI验证时程 | 第27页 |
3.5 本章小结 | 第27-28页 |
第四章 EHCI控制器UVM验证 | 第28-68页 |
4.1 EHCI验证环境简介 | 第28-30页 |
4.1.1 UVM验证环境架构 | 第28-29页 |
4.1.2 数据流向描述 | 第29-30页 |
4.2 各个模块功能介绍 | 第30-49页 |
4.2.1 总线行为功能模块 | 第30-32页 |
4.2.2 数据包定义 | 第32-33页 |
4.2.3 主机驱动流程 | 第33-40页 |
4.2.4 设备驱动流程 | 第40-44页 |
4.2.5 数据自动化比对模块 | 第44-46页 |
4.2.6 功能覆盖率模块 | 第46-47页 |
4.2.7 编写测试pattern | 第47-49页 |
4.3 EHCI功能测试 | 第49-63页 |
4.3.1 传输性能测试 | 第49-52页 |
4.3.2 数据传输功能测试 | 第52-60页 |
4.3.3 USB2.0 连接层功能测试 | 第60-62页 |
4.3.4 USB2.0 动态插拔测试 | 第62页 |
4.3.5 动态复位 | 第62页 |
4.3.6 其它测试 | 第62-63页 |
4.4 EHCI BUG检测举例 | 第63页 |
4.5 功能覆盖率分析 | 第63-65页 |
4.6 代码覆盖率分析 | 第65-66页 |
4.7 项目总结 | 第66-67页 |
4.8 本章小结 | 第67-68页 |
第五章 总结和展望 | 第68-70页 |
5.1 工作总结 | 第68页 |
5.2 后续展望 | 第68-70页 |
致谢 | 第70-71页 |
参考文献 | 第71-73页 |