射频芯片自动测试系统设计与实现
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 目录 | 第8-10页 |
| 1 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 RFID射频芯片应用综述 | 第11-12页 |
| 1.2 自动测试系统的研究现状 | 第12-13页 |
| 1.3 本研究课题的背景和研究意义 | 第13-14页 |
| 1.4 论文的研究内容与结构 | 第14-16页 |
| 2 射频芯片测试系统及其相关技术 | 第16-24页 |
| 2.1 RFID工作原理 | 第16-19页 |
| 2.2 RFID芯片分类及应用 | 第19页 |
| 2.3 RFID测试系统设计一般方法 | 第19-22页 |
| 2.4 RFID射频技术标准 | 第22-23页 |
| 2.5 本章小结 | 第23-24页 |
| 3 射频芯片测试系统硬件设计与实现 | 第24-34页 |
| 3.1 RFID测试系统硬件架构设计 | 第24-25页 |
| 3.2 数据采集单元模块设计和应用 | 第25-29页 |
| 3.2.1 LF采集模块设计 | 第25-26页 |
| 3.2.2 HF采集模块设计 | 第26-28页 |
| 3.2.3 UHF采集模块设计 | 第28-29页 |
| 3.3 辅助模块设计 | 第29-30页 |
| 3.4 电源模块设计 | 第30-32页 |
| 3.5 印制电路板PCB设计 | 第32-33页 |
| 3.6 本章小结 | 第33-34页 |
| 4 射频芯片测试系统软件设计与开发 | 第34-51页 |
| 4.1 软件设计框架 | 第35-39页 |
| 4.2 软件数据协议设计与开发 | 第39-44页 |
| 4.3 软件压力测试 | 第44-45页 |
| 4.4 接口软件程序设计 | 第45-50页 |
| 4.4.1 HF系列函数设计 | 第45-48页 |
| 4.4.2 UHF系列函数设计 | 第48-49页 |
| 4.4.3 通用程序系列设计 | 第49-50页 |
| 4.5 本章小结 | 第50-51页 |
| 5 射频芯片测试系统的测试与性能分析 | 第51-63页 |
| 5.1 低频芯片测试 | 第51-53页 |
| 5.1.1 低频芯片测试概述 | 第51-52页 |
| 5.1.2 低频芯片测试结果 | 第52-53页 |
| 5.2 高频芯片测试 | 第53-58页 |
| 5.2.1 高频芯片测试概述 | 第53-55页 |
| 5.2.2 高频芯片系列测试 | 第55-56页 |
| 5.2.4 高频芯片电气性能测试 | 第56-58页 |
| 5.3 超高频芯片测试 | 第58-59页 |
| 5.4 测试系统调试分析总结 | 第59-62页 |
| 5.4.1 测试连接线长度信号衰减问题 | 第59-61页 |
| 5.4.2 测试信号不稳定问题 | 第61-62页 |
| 5.5 本章小结 | 第62-63页 |
| 6 结论与展望 | 第63-65页 |
| 6.1 结论 | 第63页 |
| 6.2 展望 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-70页 |
| 攻读学位期间主要的研究成果 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71页 |
