集成电路测试系统码型文件解析软件设计
| 摘要 | 第4-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 研究背景 | 第10-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-13页 |
| 1.3 论文主要内容及章节安排 | 第13-15页 |
| 第二章 需求分析及总统设计方案 | 第15-27页 |
| 2.1 集成电路测试系统及语言解析基本概念 | 第15-19页 |
| 2.1.1 集成电路测试系统硬件组成 | 第15-17页 |
| 2.1.2 集成电路测试系统软件组成 | 第17-18页 |
| 2.1.3 语言解析基本概念 | 第18-19页 |
| 2.2 需求分析 | 第19-21页 |
| 2.3 总体方案设计 | 第21-25页 |
| 2.3.1 分模块设计 | 第22-23页 |
| 2.3.2 接口设计 | 第23-25页 |
| 2.3.3 开发平台 | 第25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-27页 |
| 第三章 码型文件语法解析方法与实现 | 第27-55页 |
| 3.1 码型文件语法解析方法 | 第27-35页 |
| 3.1.1 语言规则解析流程 | 第27-28页 |
| 3.1.2 解析方法 | 第28-35页 |
| 3.2 码型文件解析模块接口与实现 | 第35-53页 |
| 3.2.1 测试向量遍历模块实现 | 第37-44页 |
| 3.2.2 测试向量处理模块实现 | 第44-49页 |
| 3.2.3 中间向量文件生成模块实现 | 第49-53页 |
| 3.3 本章小结 | 第53-55页 |
| 第四章 码型文件合并模块实现 | 第55-65页 |
| 4.1 合并模块接口及实现 | 第55-64页 |
| 4.1.1 中间向量文件读取模块实现 | 第55-58页 |
| 4.1.2 操作信息合并模块实现 | 第58-60页 |
| 4.1.3 向量文件生成模块实现 | 第60-64页 |
| 4.2 本章小结 | 第64-65页 |
| 第五章 测试与验证 | 第65-78页 |
| 5.1 软件测试原则 | 第65页 |
| 5.2 测试环境搭建 | 第65-67页 |
| 5.3 模块测试 | 第67-77页 |
| 5.3.1 语言解析规则测试 | 第68-69页 |
| 5.3.2 解析模块测试 | 第69-70页 |
| 5.3.3 合并模块测试 | 第70-73页 |
| 5.3.4 大数据码型文件解析性能测试 | 第73-74页 |
| 5.3.5 STIL码型文件解析测试 | 第74-77页 |
| 5.4 本章小结 | 第77-78页 |
| 第六章 总结与展望 | 第78-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-82页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第82页 |
