| 致谢 | 第7-8页 |
| 摘要 | 第8-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第16-23页 |
| 1.1 研究背景 | 第16-19页 |
| 1.2 研究目的及意义 | 第19页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第19-20页 |
| 1.4 本文内容概述 | 第20-23页 |
| 第二章 VLSI测试压缩方法和低功耗测试技术综述 | 第23-39页 |
| 2.1 测试概述 | 第23页 |
| 2.2 测试数据压缩方法 | 第23-33页 |
| 2.2.1 基于编码的测试数据压缩 | 第25-29页 |
| 2.2.2 基于线性解压结构的压缩 | 第29-32页 |
| 2.2.3 基于广播扫描的压缩 | 第32-33页 |
| 2.3 低功耗测试技术 | 第33-37页 |
| 2.3.1 降低移位功耗的方法 | 第33-35页 |
| 2.3.2 降低捕获功耗的方法 | 第35-37页 |
| 2.4 测试压缩与低功耗X填充的矛盾 | 第37-38页 |
| 2.5 本章小结 | 第38-39页 |
| 第三章 基于分段编码的低功耗LFSR测试方法 | 第39-51页 |
| 3.1 LFSR编码的基本原理 | 第39-40页 |
| 3.2 LFSR重播种的相关研究 | 第40-43页 |
| 3.3 同时优化压缩率和功耗的LFSR重播种方法 | 第43-47页 |
| 3.3.1 基于分段相容编码的测试立方优化 | 第44-45页 |
| 3.3.2 基于标记的测试立方分组算法 | 第45-47页 |
| 3.4 硬件实现 | 第47-48页 |
| 3.5 实验结果 | 第48-50页 |
| 3.6 本章小结 | 第50-51页 |
| 第四章 基于Viterbi算法的低功耗测试压缩方法 | 第51-65页 |
| 4.1 Viterbi解压结构 | 第51-52页 |
| 4.2 基于Viterbi算法的压缩理论 | 第52-58页 |
| 4.3 低功耗Viterbi测试方法 | 第58-60页 |
| 4.3.1 面向测试功耗的X填充方法 | 第59页 |
| 4.3.2 面向Viterbi算法的分段相容编码 | 第59-60页 |
| 4.4 低功耗Viterbi解压器 | 第60-62页 |
| 4.5 实验结果 | 第62-64页 |
| 4.6 本章小结 | 第64-65页 |
| 第五章 总结与展望 | 第65-67页 |
| 5.1 总结 | 第65页 |
| 5.2 展望 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-72页 |
| 攻读硕士学位期间的学术活动及成果情况 | 第72-73页 |