| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-21页 |
| 1.1 研究背景 | 第8-11页 |
| 1.2 研究的目的和意义 | 第11-16页 |
| 1.3 小时延缺陷测试和测试路径选择的研究现状和关键技术 | 第16-19页 |
| 1.4 本文主要研究内容及组织结构 | 第19-21页 |
| 第2章 针对小时延缺陷测试路径选择 | 第21-37页 |
| 2.1 时延测试和小时延测试 | 第21-23页 |
| 2.2 时延故障模型 | 第23-26页 |
| 2.2.1 门时延故障模型 | 第23-24页 |
| 2.2.2 跳变时延故障模型 | 第24页 |
| 2.2.3 通路时延故障模型 | 第24-25页 |
| 2.2.4 小时延缺陷测试中时延故障模型选择 | 第25-26页 |
| 2.3 基于贪婪算法的小时延缺陷测试通路选择 | 第26-36页 |
| 2.3.1 引言 | 第26页 |
| 2.3.2 基于图论的电路分析方法 | 第26-30页 |
| 2.3.3 基于贪婪算法的关键路径搜索算法 | 第30-36页 |
| 2.4 本章小结 | 第36-37页 |
| 第3章 基于蚁群优化算法的小时延缺陷测试路径选择算法 | 第37-54页 |
| 3.1 引言 | 第37页 |
| 3.2 蚁群优化算法的原理分析 | 第37-41页 |
| 3.2.1 蚁群优化算法基本原理 | 第37-38页 |
| 3.2.2 主要的蚁群算法 | 第38-41页 |
| 3.3 蚁群优化算法在小时延缺陷测试关键路径搜索的应用 | 第41-43页 |
| 3.3.1 引言 | 第41-42页 |
| 3.3.2 关键路径搜索问题的概率公式选择 | 第42页 |
| 3.3.3 带精英策略的信息素更新规则 | 第42-43页 |
| 3.4 算法描述与实现 | 第43-50页 |
| 3.4.1 基于蚁群算法的小时延缺陷测试路径选择算法流程描述 | 第43-45页 |
| 3.4.2 蚁群优化算法的参数优化 | 第45-50页 |
| 3.5 实验结果与分析 | 第50-53页 |
| 3.5.1 实验结果 | 第50-52页 |
| 3.5.2 蚁群优化与贪婪算法的性能对比分析 | 第52-53页 |
| 3.6 本章小结 | 第53-54页 |
| 第4章 基于电路拓扑结构关键节点的小时延缺陷测试路径选择算法 | 第54-88页 |
| 4.1 引言 | 第54-55页 |
| 4.2 复杂网络中节点关键度评价原理分析及在电路网络中的应用 | 第55-71页 |
| 4.2.1 基于网络中心性的电路网络节点关键度评价算法 | 第56-63页 |
| 4.2.2 基于随机游走的电路网络节点关键度评价算法 | 第63-69页 |
| 4.2.3 电路网络关键点选择算法总结 | 第69-71页 |
| 4.3 基于关键节点和蚁群算法的小时延缺陷测试路径选择算法 | 第71-81页 |
| 4.3.1 算法的描述及实现 | 第71-73页 |
| 4.3.2 实验结果 | 第73-77页 |
| 4.3.3 结果分析 | 第77-81页 |
| 4.4 基于关键节点子电路划分的小时延缺陷测试路径搜索算法 | 第81-86页 |
| 4.4.1 算法描述及实现 | 第81-84页 |
| 4.4.2 实验结果与分析 | 第84-86页 |
| 4.5 本章小结 | 第86-88页 |
| 结论 | 第88-90页 |
| 参考文献 | 第90-94页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第94-96页 |
| 致谢 | 第96页 |
