新型反熔丝器件可靠性评价技术研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 研究的背景和意义 | 第10-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-13页 |
| 1.3 论文结构和主要工作 | 第13-14页 |
| 第二章 反熔丝存储器可靠性分析 | 第14-21页 |
| 2.1 反熔丝PROM概述 | 第14-16页 |
| 2.2 PROM存储器内部结构 | 第16-18页 |
| 2.3 PROM存储器可靠性原理 | 第18-20页 |
| 2.3.1 编程可靠性分析 | 第18-19页 |
| 2.3.2 读数可靠性分析 | 第19-20页 |
| 2.3.3 ESD防护 | 第20页 |
| 2.4 本章小结 | 第20-21页 |
| 第三章 反熔丝器件可靠性分析模型 | 第21-29页 |
| 3.1 栅氧击穿模型 | 第21-22页 |
| 3.2 反熔丝器件击穿模型 | 第22-28页 |
| 3.2.1 热化学击穿模型 | 第23-26页 |
| 3.2.2 空穴击穿模型 | 第26-27页 |
| 3.2.3 统一击穿模型 | 第27-28页 |
| 3.3 本章小结 | 第28-29页 |
| 第四章 反熔丝器件测试 | 第29-36页 |
| 4.1 测试器件简介 | 第29-30页 |
| 4.2 实验流程介绍 | 第30-32页 |
| 4.3 测试结果分析 | 第32-35页 |
| 4.4 本章小结 | 第35-36页 |
| 第五章 PROM芯片可靠性测试系统 | 第36-66页 |
| 5.1 可靠性测试系统开发环境 | 第36-37页 |
| 5.1.1 Verilog开发环境 | 第36页 |
| 5.1.2 FPGA开发平台 | 第36-37页 |
| 5.1.3 系统测试环境 | 第37页 |
| 5.2 总体设计简介 | 第37-39页 |
| 5.3 PROM存储器接口电路 | 第39-40页 |
| 5.4 FPGA电路设计 | 第40-61页 |
| 5.4.1 UART串口发送模块 | 第40-46页 |
| 5.4.2 UART串口接收模块 | 第46-49页 |
| 5.4.3 PROM初始化模块 | 第49-55页 |
| 5.4.4 数据对比模块 | 第55-61页 |
| 5.5 PROM可靠性测试系统验证 | 第61-64页 |
| 5.6 测试结果分析 | 第64-65页 |
| 5.7 本章小结 | 第65-66页 |
| 第六章 总结与展望 | 第66-67页 |
| 6.1 本文工作总结 | 第66页 |
| 6.2 展望 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-70页 |
| 攻读硕士期间取得的成果 | 第70页 |
