| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状及分析 | 第10-13页 |
| 1.2.1 数模混合电路测试方法国内外研究现状 | 第10-11页 |
| 1.2.2 数模混合电路测试矢量生成国内外研究现状 | 第11页 |
| 1.2.3 典型数模混合电路测试国内外研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.4 故障诊断技术国内外研究现状 | 第12-13页 |
| 1.3 本文的主要研究内容 | 第13-14页 |
| 第2章 基于混沌模型的模拟电路测试方法 | 第14-30页 |
| 2.1 基于离散Tent混沌模型的时间序列 | 第14-17页 |
| 2.2 基于D-M模型的混沌时间序列 | 第17-22页 |
| 2.2.1 D-M混沌模型的构造 | 第17-18页 |
| 2.2.2 基于D-M模型的迭代序列特性分析 | 第18-20页 |
| 2.2.3 基于D-M模型的二值化时间序列 | 第20-22页 |
| 2.3 基于D-M模型的模拟电路测试激励生成 | 第22-25页 |
| 2.3.1 基于混沌模型的模拟电路测试激励构造 | 第22-23页 |
| 2.3.2 基于D-M模型的模拟电路测试激励特性分析 | 第23-25页 |
| 2.4 基于混沌激励的模拟电路故障特征提取 | 第25-29页 |
| 2.4.1 基于混沌激励的故障特征提取方法 | 第25-26页 |
| 2.4.2 故障特征提取的仿真分析 | 第26-27页 |
| 2.4.3 故障特征矩阵的建立 | 第27-29页 |
| 2.5 本章小结 | 第29-30页 |
| 第3章 模数转换器嵌入式测试算法设计 | 第30-41页 |
| 3.1 模数转换器测试算法设计流程 | 第30-31页 |
| 3.2 模数转换器原理和特性分析 | 第31-32页 |
| 3.3 模数转换器故障模式分析 | 第32-35页 |
| 3.4 模数转换器CWH测试方法 | 第35-38页 |
| 3.5 CWH测试方法仿真验证 | 第38-40页 |
| 3.6 本章小结 | 第40-41页 |
| 第4章 锁相环嵌入式测试算法设计 | 第41-51页 |
| 4.1 锁相环电路的结构和工作原理 | 第41-43页 |
| 4.2 锁相环模块故障模式分析 | 第43-45页 |
| 4.3 锁相环模块嵌入式测试方法 | 第45-47页 |
| 4.4 故障字典的建立 | 第47-50页 |
| 4.4.1 低通滤波器故障字典的建立 | 第47-48页 |
| 4.4.2 压控振荡器故障字典的建立 | 第48-50页 |
| 4.5 本章小结 | 第50-51页 |
| 第5章 数模混合电路嵌入式测试系统建立 | 第51-64页 |
| 5.1 数模混合电路嵌入式测试系统构建方案 | 第51-53页 |
| 5.1.1 模拟电路嵌入式测试系统设计方案 | 第51-52页 |
| 5.1.2 典型数模混合电路嵌入式测试系统设计方案 | 第52-53页 |
| 5.1.3 嵌入式测试系统总体应用架构 | 第53页 |
| 5.2 数模混合验证电路设计 | 第53-55页 |
| 5.3 上位机软件功能及实现 | 第55-57页 |
| 5.4 控制器功能及实现 | 第57-60页 |
| 5.4.1 基于混沌模型的测试激励硬件实现 | 第57-59页 |
| 5.4.2 压控振荡器测试的直流激励硬件实现 | 第59-60页 |
| 5.5 系统实验结果及分析 | 第60-63页 |
| 5.6 本章小结 | 第63-64页 |
| 结论 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-70页 |
| 致谢 | 第70页 |
