基于翻转概率分析的加速硬件木马检测技术研究
| 摘要 | 第6-7页 |
| abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第11-18页 |
| 1.1 研究背景 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-16页 |
| 1.2.1 破坏式检测 | 第12-13页 |
| 1.2.2 逻辑功能测试 | 第13-14页 |
| 1.2.3 旁路信号测试 | 第14-16页 |
| 1.3 论文的主要研究工作和结构安排 | 第16-18页 |
| 第2章 硬件木马简述 | 第18-28页 |
| 2.1 硬件木马的结构及分类 | 第18-23页 |
| 2.1.1 硬件木马结构 | 第18-20页 |
| 2.1.2 硬件木马分类 | 第20-23页 |
| 2.2 硬件木马的插入阶段 | 第23-24页 |
| 2.3 典型硬件木马设计 | 第24-26页 |
| 2.3.1 组合型硬件木马设计 | 第24-25页 |
| 2.3.2 时序型硬件木马设计 | 第25-26页 |
| 2.3.3 有限状态机触发的硬件木马 | 第26页 |
| 2.4 本章小结 | 第26-28页 |
| 第3章 提高翻转概率方案设计 | 第28-43页 |
| 3.1 电路翻转概率模型分析 | 第28-29页 |
| 3.2 提高翻转概率分析 | 第29-31页 |
| 3.3 提高翻转概率的MUX插入算法设计 | 第31-33页 |
| 3.4 仿真实验结果分析 | 第33-42页 |
| 3.4.1 翻转概率提高 | 第33-37页 |
| 3.4.2 插入MUX带来的额外开销 | 第37-38页 |
| 3.4.3 对硬件木马电路的激活作用 | 第38-39页 |
| 3.4.4 最大延时比例系数对结果的影响 | 第39-41页 |
| 3.4.5 插入MUX对原电路功能影响 | 第41-42页 |
| 3.5 本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 基于功耗的旁路信号分析方法 | 第43-58页 |
| 4.1 旁路信号分析方法简介 | 第43-44页 |
| 4.2 CMOS电路功耗分析 | 第44-46页 |
| 4.3 K-L分析方法 | 第46-48页 |
| 4.4 旁路信号分析实验方案 | 第48-50页 |
| 4.4.1 实验方案 | 第48页 |
| 4.4.2 具体实验流程 | 第48-50页 |
| 4.5 旁路信号分析方法实验结果 | 第50-57页 |
| 4.5.1 翻转概率提高前后K-L变换结果 | 第50-55页 |
| 4.5.2 噪声和测量误差对实验结果影响 | 第55-57页 |
| 4.6 本章小结 | 第57-58页 |
| 结论 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及科研情况 | 第64页 |
