VLSI测试压缩技术下的FPGA仿真研究
| 致谢 | 第7-8页 |
| 摘要 | 第8-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第16-25页 |
| 1.1 课题研究背景 | 第16-20页 |
| 1.1.1 集成电路测试和可测试性设计 | 第16-18页 |
| 1.1.2 测试压缩和功耗问题 | 第18-19页 |
| 1.1.3 FPGA的优势 | 第19-20页 |
| 1.2 研究目的和意义 | 第20-21页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第21-22页 |
| 1.4 本文拟解决方案和解决步骤 | 第22-24页 |
| 1.4.1 本文拟解决方案 | 第22-23页 |
| 1.4.2 解决步骤 | 第23-24页 |
| 1.5 本文的章节安排 | 第24-25页 |
| 第二章 FPGA原理基础与核心技术 | 第25-39页 |
| 2.1 FPGA的概述 | 第25-28页 |
| 2.1.1 FPGA的技术演进和定义 | 第25-26页 |
| 2.1.2 主流FPGA芯片的介绍 | 第26-28页 |
| 2.2 FPGA的芯片构成 | 第28-33页 |
| 2.2.1 FPGA结构介绍 | 第28-31页 |
| 2.2.2 软核、硬核和固核 | 第31-33页 |
| 2.3 FPGA的工作方式和开发流程 | 第33-36页 |
| 2.3.1 FPGA的工作方式 | 第33页 |
| 2.3.2 基于FPGA开发流程的相关介绍 | 第33-36页 |
| 2.4 FPGA的发展与应用 | 第36-38页 |
| 2.5 本章小结 | 第38-39页 |
| 第三章 基于LFSR结构的测试压缩方案 | 第39-50页 |
| 3.1 产生测试向量的LFSR原理 | 第39-42页 |
| 3.1.1 LFSR的结构和理论介绍 | 第39-40页 |
| 3.1.2 种子生成原理 | 第40-42页 |
| 3.2 典型重播种测试压缩的研究分析 | 第42-45页 |
| 3.3 基于LFSR低功耗生成分块重播种压缩方案 | 第45-49页 |
| 3.3.1 本文方案的原理设计 | 第45-48页 |
| 3.3.2 硬件实施电路 | 第48-49页 |
| 3.4 具体实验步骤 | 第49页 |
| 3.5 本章小结 | 第49-50页 |
| 第四章 基于FPGA的测试压缩方案的设计与仿真 | 第50-75页 |
| 4.1 仿真的软件和硬件平台 | 第50-53页 |
| 4.1.1 软件实现平台ISE | 第50-51页 |
| 4.1.2 硬件实现平台 | 第51-53页 |
| 4.2 基于FPGA的压缩实施电路的各部分设计 | 第53-64页 |
| 4.2.1 ROM及其控制器的设计与仿真 | 第54-59页 |
| 4.2.2 线性反馈移位寄存器的设计与仿真 | 第59-60页 |
| 4.2.3 计数器的设计与仿真 | 第60-62页 |
| 4.2.4 扫描链的设计 | 第62-63页 |
| 4.2.5 测试向量生成控制核的设计与仿真 | 第63-64页 |
| 4.3 基于FPGA的整体施加电路的设计与仿真 | 第64-68页 |
| 4.3.1 整体电路的设计 | 第64-66页 |
| 4.3.2 整体电路的仿真结果 | 第66-68页 |
| 4.4 实验结果和分析 | 第68-74页 |
| 4.4.1 压缩方案的数据比较 | 第68-69页 |
| 4.4.2 基于FPGA的仿真电路功能验证 | 第69-70页 |
| 4.4.3 基于FPGA的仿真电路性能分析 | 第70-74页 |
| 4.5 本章小结 | 第74-75页 |
| 第五章 总结和展望 | 第75-77页 |
| 5.1 本文总结 | 第75-76页 |
| 5.2 工作展望 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-82页 |
| 攻读硕士学位期间的学术活动及成果情况 | 第82-83页 |
