基于C#的多功能专用芯片可靠性自动测试系统
| 致谢 | 第4-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 引言 | 第9-13页 |
| 1.1 研究背景 | 第9-10页 |
| 1.2 研究内容及意义 | 第10-11页 |
| 1.3 章节安排 | 第11-13页 |
| 第2章 可靠性试验原理及微波测试基础 | 第13-31页 |
| 2.1 可靠性试验原理 | 第13-15页 |
| 2.2 微波测试基础 | 第15-31页 |
| 2.2.1 二端口网络 | 第15-17页 |
| 2.2.2 S参数的测量 | 第17-25页 |
| 2.2.3 功率参数的测量 | 第25-30页 |
| 2.2.4 供电与直流参数的测量 | 第30-31页 |
| 第3章 硬件系统设计 | 第31-55页 |
| 3.1 多功能专用芯片简介 | 第31-34页 |
| 3.2 主测试系统组成 | 第34-51页 |
| 3.2.1 多功能控制芯片 | 第35-37页 |
| 3.2.2 主控计算机 | 第37页 |
| 3.2.3 矢量网络分析仪 | 第37页 |
| 3.2.4 直流稳压电源 | 第37-38页 |
| 3.2.5 通信总线 | 第38页 |
| 3.2.6 FPGA开发板 | 第38-43页 |
| 3.2.7 临时封装夹具 | 第43-47页 |
| 3.2.8 固定板与电源板 | 第47-51页 |
| 3.3 环境设备 | 第51-52页 |
| 3.4 辅助测温系统 | 第52-55页 |
| 3.4.1 电阻测量原理 | 第52-53页 |
| 3.4.2 辅助测温系统搭建与工作流程 | 第53-55页 |
| 第4章 软件系统设计 | 第55-73页 |
| 4.1 软件系统技术简介 | 第55-59页 |
| 4.1.1 C | 第55页 |
| 4.1.2 可视化编程 | 第55-56页 |
| 4.1.3 底层控制技术 | 第56-57页 |
| 4.1.4 MYSQL数据库 | 第57-58页 |
| 4.1.5 串口通信技术 | 第58-59页 |
| 4.2 软件系统结构 | 第59-69页 |
| 4.2.1 用户界面模块 | 第59-63页 |
| 4.2.2 设备驱动模块 | 第63-65页 |
| 4.2.3 数据处理模块 | 第65-68页 |
| 4.2.4 数据存储模块 | 第68-69页 |
| 4.3 软件的运行流程 | 第69-70页 |
| 4.4 软件性能说明 | 第70-73页 |
| 4.4.1 编程语言对比 | 第70页 |
| 4.4.2 软件精确性、重复性、速度验证 | 第70-73页 |
| 第5章 测试系统评估 | 第73-79页 |
| 5.1 三温试验 | 第73-76页 |
| 5.2 稳态寿命试验 | 第76-77页 |
| 5.3 抗辐照试验 | 第77-79页 |
| 第6章 总结与展望 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-83页 |
| 作者简介 | 第83页 |
| 发表的学术论文 | 第83页 |
