基于电力载波通信芯片的数字模块可测性分析和优化
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 可测性设计的目的及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 可测性设计方法简介 | 第9-10页 |
| 1.3 可测性设计面临的挑战 | 第10-11页 |
| 1.4 本文研究内容和结构 | 第11-13页 |
| 第2章 可测性设计基本原理 | 第13-21页 |
| 2.1 可测性基本概念 | 第13页 |
| 2.2 集成电路故障 | 第13-16页 |
| 2.2.1 单固定型故障 | 第14页 |
| 2.2.2 多固定型故障 | 第14-15页 |
| 2.2.3 固定开路/短路故障 | 第15-16页 |
| 2.2.4 跳变故障模型 | 第16页 |
| 2.2.5 桥接故障模型 | 第16页 |
| 2.3 自动测试向量生成 | 第16-18页 |
| 2.4 测试方法 | 第18-20页 |
| 2.4.1 扫描测试 | 第18-19页 |
| 2.4.2 边界扫描测试 | 第19页 |
| 2.4.3 内建自测试 | 第19-20页 |
| 2.4.4 实速扫描测试 | 第20页 |
| 2.5 本章小结 | 第20-21页 |
| 第3章 压缩扫描测试方法 | 第21-36页 |
| 3.1 扫描设计方法 | 第21-27页 |
| 3.1.1 扫描设计基本原理 | 第22-24页 |
| 3.1.2 扫描设计基本参数 | 第24-25页 |
| 3.1.2.1 测试管脚数目 | 第24页 |
| 3.1.2.2 扫描链长度和扫描链条数 | 第24-25页 |
| 3.1.2.3 扫描设计测试时间 | 第25页 |
| 3.1.3 扫描设计方法流程 | 第25-27页 |
| 3.2 压缩扫描设计方法 | 第27-34页 |
| 3.2.1 测试激励压缩 | 第29-33页 |
| 3.2.1.1 兼容压缩 | 第30-32页 |
| 3.2.1.2 编码压缩 | 第32页 |
| 3.2.1.3 广播式压缩 | 第32-33页 |
| 3.2.1.4 逻辑变换压缩 | 第33页 |
| 3.2.2 测试响应压缩 | 第33-34页 |
| 3.3 压缩扫描设计和扫描设计方法比较 | 第34-35页 |
| 3.4 本章小结 | 第35-36页 |
| 第4章 电力线载波芯片的可测性设计 | 第36-42页 |
| 4.1 电力线通信芯片 BES3801 简介 | 第36-37页 |
| 4.2 BES3801 扫描设计 | 第37-41页 |
| 4.2.1 扫描链插入设计 | 第37-40页 |
| 4.2.2 ATPG 测试向量生成 | 第40页 |
| 4.2.3 BES3801 扫描设计结果 | 第40-41页 |
| 4.3 本章小结 | 第41-42页 |
| 第5章 电力线载波芯片的可测性设计优化 | 第42-50页 |
| 5.1 压缩扫描设计流程 | 第42-44页 |
| 5.2 压缩扫描链插入设计 | 第44-48页 |
| 5.3 ATPG 压缩测试向量生成 | 第48页 |
| 5.4 BES3801 压缩扫描设计结果 | 第48-49页 |
| 5.5 本章小结 | 第49-50页 |
| 结论 | 第50-52页 |
| 参考文献 | 第52-54页 |
| 攻读硕士学位期间所发表的学术论文 | 第54-56页 |
| 致谢 | 第56页 |
