考虑功耗的集成电路老化缓解技术的研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 1 绪论 | 第12-24页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第12-16页 |
| 1.1.1 集成电路发展历程 | 第12-13页 |
| 1.1.2 集成电路的挑战 | 第13-16页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第16-21页 |
| 1.2.1 NBTI效应研究现状 | 第16-20页 |
| 1.2.2 动态功耗研究现状 | 第20页 |
| 1.2.3 考虑功耗的NBTI效应研究现状 | 第20-21页 |
| 1.3 本文的主要工作 | 第21-22页 |
| 1.3.1 课题来源 | 第21页 |
| 1.3.2 研究内容及创新点 | 第21-22页 |
| 1.4 本文的组织结构 | 第22-24页 |
| 2 基础知识与仿真工具介绍 | 第24-36页 |
| 2.1 NBTI效应 | 第24-31页 |
| 2.1.1 反应扩散模型 | 第24-27页 |
| 2.1.2 静态NBTI效应阈值电压模型 | 第27页 |
| 2.1.3 动态NBTI模型 | 第27-29页 |
| 2.1.4 长期动态NBTI预测模型 | 第29-30页 |
| 2.1.5 长期NBTI效应时延模型 | 第30-31页 |
| 2.2 动态功耗建模方法 | 第31-32页 |
| 2.3 仿真工具介绍 | 第32-34页 |
| 2.4 本章小节 | 第34-36页 |
| 3 面向多输入向量控制技术的最佳占空比求解 | 第36-48页 |
| 3.1 考虑工作负载的关键路径精简方法 | 第37-40页 |
| 3.2 优化目标函数建立 | 第40-41页 |
| 3.3 最佳占空比的求解 | 第41-44页 |
| 3.3.1 算法过程 | 第41-43页 |
| 3.3.2 时间复杂度分析 | 第43-44页 |
| 3.4 实验设置与结果分析 | 第44-46页 |
| 3.5 本章小结 | 第46-48页 |
| 4 考虑功耗的M-IVC技术缓解NBTI老化 | 第48-60页 |
| 4.1 动态功耗模型 | 第50-51页 |
| 4.2 随机输入波形控制法介绍 | 第51-55页 |
| 4.2.1 随机输入波形对NBTI老化效应的影响 | 第51-52页 |
| 4.2.2 波形对动态功耗的影响 | 第52-53页 |
| 4.2.3 波形对功耗与延时的综合影响 | 第53-55页 |
| 4.3 考虑功耗的M-IVC波形设计 | 第55-57页 |
| 4.3.1 LPRW波形设计 | 第55-56页 |
| 4.3.2 波形生成器设计 | 第56-57页 |
| 4.4 实验设置与结果分析 | 第57-58页 |
| 4.5 本章小结 | 第58-60页 |
| 5 总结与展望 | 第60-62页 |
| 5.1 总结 | 第60-61页 |
| 5.2 展望 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-68页 |
| 致谢 | 第68-70页 |
| 作者简介及读研期间的主要科研 | 第70-71页 |
