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测试和检验
基于FPGA的电路板多功能测试仪设计与开发
PCB板级EMC自动测试系统设计
半导体芯片封装测试生产线变动性度量与性能评估研究
定向凝固多孔铜微通道热沉散热性能的优化研究
可信芯片验证平台的设计与实现
提高IC测试并行度及其程序优化的研究
失效分析在DRAM产品中的应用
超声表面波（LSAWs）法表征low-k薄膜杨氏模量的快速实现
非接触式IC卡硬件驱动层的系统测试方法研究
FPGA芯片自动下载测试系统开发
SoC测试中数据压缩与降低功耗方法研究
集成电路测试生成的算法研究
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面向大容量PLD的安全缺陷快速检测方法研究
层次化SOC可测性架构及测试调度优化策略研究
旨在降低测试时间和测试功耗的扫描树设计研究
基于RFID芯片的高同测数测试方案的研究与实现
量化管理在移动终端芯片测试开发项目中的应用研究
环氧树脂型探针卡的制作及高温测试关键技术研究
关于提高芯片ICS模块良品率的研究
混合集成电路自动测试系统研究与设计
基于FDR编码的高效测试数据压缩扫描树结构研究
集成电路测试数据编码压缩方法研究
基于GPU的小时延故障模拟方法研究
小时延测试向量产生与关键通路选择方法研究
基于ATE的射频芯片测试技术研究
漏电保护专用集成电路测试系统的设计与实现
基于SystemVerilog的图像缩放IP验证平台的研究与实现
基于FPGA的芯片自动测试平台的研究与实现
音频放大器自动测试系统研究与设计
基于VMM方法学的背光控制IP的验证
基于虚拟仪器的xDSL模拟前端芯片自动化测试系统
基于Specman的USIM核验证
电路正确性验证系统的建模与设计
基于eM-Plant的芯片终端测试生产系统生产控制与调度研究
基于UVM的高速数据交换电路验证平台设计研究
闪存控制芯片CR2511老化测试系统的设计与实现
高密度电路板测试控制器软件设计与实现
某数模混合电路分析及故障检测
覆盖率驱动的交换芯片验证方法研究
三维芯片测试中低成本自测试方法研究
接触式IC卡使用寿命测试机的研发
一种低功耗确定性内建自测试技术研究与实现
三维集成电路测试关键技术研究
硬件木马的非线性功耗检测方法及实现
SCP多核处理器芯片功耗测试与DVFS算法实现
延时故障检测功能在DFT中的实现
基于广播扫描的低功耗测试压缩方法研究
协同优化移位功耗和捕获功耗的测试数据压缩方法研究
基于IEEE P1687网络的单链全扫描结构测试方法研究
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