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测试和检验
基于虚拟仪器的电路板功能测试系统设计
“绑定中测试”测试流程对于测试成本的影响
基于谱变换的伪随机测试方法研究
面向多扫描链的变换压缩方法的应用与研究
基于变换的测试数据压缩方法研究
基于扫描链的SoC可测性设计及故障诊断技术研究
基于UVM的SPI接口IP核的验证平台设计
基于UVM验证平台的回归测试集生成和最小化研究
超大规模集成电路测试数据编码压缩技术研究
3D集成电路布局布线基准测试电路研究
基于UVM的跟踪调试系统的验证研究
基于TestKompress工具的EDT结构在基带芯片中的实现
高速差分接口芯片的自动化测试研究与实现
基于可疑电路结构分析的硬件木马检测技术研究
SERDES芯片的验证与测试研究
基于CNN的晶圆SEM图像缺陷检测与分类研究
基于环形振荡器的可寻址测试芯片的研究与实现
基于FPGA的片上ADC/DAC模块测试系统设计
硬件木马电路设计与检测--针对信息泄露型与功能型木马的研究
基于FPGA和PC机的网络芯片多接口自动化测试平台设计
基于UVM的层次化验证平台研究
基于模型检验的固件恶意代码检测技术研究
板卡功能自动测试系统的研发
小时延故障模拟加速方法研究
基于形式验证方法的数字LTE芯片逻辑等价性分析及研究
应用于SoC的PCIE与FC协议高速信息传输模块实现与验证
基于UVM及VIP技术的PCI Express接口验证
基于片上时钟电路的at speed测试及验证
基于UVM的128-Bit Processor Local Bus的验证研究
TO252型转塔式半导体分选机关键技术研究
基于光学图像和红外热像的电路板故障检测技术研究
基于运算放大器的四线法并联式电流测试仪
差分串联电压开关逻辑的特性及应用研究
基于ATPG的FPGA网表等价性验证方法研究
基于量子点生物芯片的荧光信号采集与处理系统研究
高精度、宽温度范围负压检测电路的设计
电路板自动测试系统的可视化软件平台设计
基于机器视觉的电路板测点自动定位系统设计
IC载带尺寸的在线测量
低成本数字集成电路在线故障检测的研究
MEMS探卡的设计及制备工艺研究
微毛细管电泳芯片安培检测器的研制
芯片剥离过程分析及其机构
基于单片机的PCBA自动测试系统的设计与实现
基于优化ATPG的可测试性设计与实现
电路板质量检测系统
基于并行DSP的VLSI功能测试研究
探针台精准控制关键技术研究
基于电流的集成电路故障诊断研究
IC分选设备测压结构关键技术研究
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