基于ATE多通道射频接收芯片测试研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 研究工作的背景与意义 | 第10页 |
| 1.2 射频集成电路测试的国内外研究历史与现状 | 第10-12页 |
| 1.3 本文的研究目标与主要内容 | 第12-13页 |
| 1.4 本论文的结构安排 | 第13-14页 |
| 第二章 多通道射频接收芯片测试原理 | 第14-28页 |
| 2.1 多通道射频接收芯片结构 | 第14-18页 |
| 2.2 射频芯片参数测试原理 | 第18-25页 |
| 2.2.1 典型射频电路及重要参数 | 第18-20页 |
| 2.2.2 参数测试原理 | 第20-25页 |
| 2.3 V93000自动测试系统 | 第25-27页 |
| 2.4 本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 测试板设计 | 第28-38页 |
| 3.1 测试板LOADBOARD简介 | 第28页 |
| 3.2 测试板设计方案 | 第28-37页 |
| 3.2.1 ATE电源特性 | 第29页 |
| 3.2.2 ATE数字板卡特性 | 第29-30页 |
| 3.2.3 ATE射频板卡特性 | 第30页 |
| 3.2.4 射频测试板设计 | 第30-37页 |
| 3.3 本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 测试程序开发 | 第38-54页 |
| 4.1 管脚定义PIN文件 | 第39-41页 |
| 4.1.1 电源管脚定义 | 第39页 |
| 4.1.2 数字管脚定义 | 第39-40页 |
| 4.1.3 模拟射频管脚定义 | 第40-41页 |
| 4.2 电平定义LEVEL文件 | 第41页 |
| 4.3 时序定义TIMING文件 | 第41-43页 |
| 4.4 数字测试激励定义PATTERN文件 | 第43-46页 |
| 4.5 射频及模拟信号的定义 | 第46-48页 |
| 4.6 测试流程 | 第48页 |
| 4.7 测试程序开发 | 第48-53页 |
| 4.8 本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 量产测试 | 第54-73页 |
| 5.1 自动筛选机 | 第55-57页 |
| 5.2 自动化筛选测试实现 | 第57-72页 |
| 5.2.1 筛选机与ATE的硬件连接 | 第57页 |
| 5.2.2 ATE与筛选机软件控制实现 | 第57-59页 |
| 5.2.3 量产测试数据分析 | 第59-72页 |
| 5.3 本章小结 | 第72-73页 |
| 第六章 总结 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-76页 |
