IC自动测试系统中精密测量单元的设计与实现
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-12页 |
| 1.1 IC自动测试系统的发展及现状 | 第9-10页 |
| 1.2 本课题的研究意义 | 第10页 |
| 1.3 本课题的来源 | 第10-11页 |
| 1.4 本课题的研究内容 | 第11-12页 |
| 第二章 IC自动测试系统的软硬件设计 | 第12-23页 |
| 2.1 IC测试的分类 | 第12-13页 |
| 2.2 IC自动测试系统框架 | 第13-15页 |
| 2.2.1 IC自动测试系统的硬件平台 | 第13-14页 |
| 2.2.2 IC自动测试系统的软件平台 | 第14-15页 |
| 2.3 IC自动测试系统的硬件设计 | 第15-22页 |
| 2.3.1 通信模块 | 第15-16页 |
| 2.3.2 母板模块 | 第16-17页 |
| 2.3.3 电源模块 | 第17页 |
| 2.3.4 控制模块 | 第17-18页 |
| 2.3.5 时间测量单元模块 | 第18-19页 |
| 2.3.6 精密测量单元模块 | 第19-21页 |
| 2.3.7 任意波形发生器模块 | 第21-22页 |
| 2.3.8 波形数字化仪模块 | 第22页 |
| 2.4 本章总结 | 第22-23页 |
| 第三章 精密测量单元的硬件设计 | 第23-49页 |
| 3.1 精密测量单元的指标要求 | 第23页 |
| 3.2 精密测量单元的设计方案 | 第23-27页 |
| 3.2.1 FVMI工作模式 | 第24-25页 |
| 3.2.2 FIMV工作模式 | 第25页 |
| 3.2.3 开尔文连接 | 第25-27页 |
| 3.3 精密测量单元的硬件结构 | 第27-48页 |
| 3.3.1 接.电路 | 第27-28页 |
| 3.3.2 电源电压电路 | 第28-30页 |
| 3.3.3 FPGA电路 | 第30-33页 |
| 3.3.4 FPGA配置电路 | 第33-35页 |
| 3.3.5 低压PMU电路 | 第35-42页 |
| 3.3.6 高压PMU电路 | 第42-48页 |
| 3.4 本章总结 | 第48-49页 |
| 第四章 精密测量单元的驱动设计 | 第49-63页 |
| 4.1 测试驱动函数的设计 | 第49-54页 |
| 4.2 硬件驱动程序的设计 | 第54-62页 |
| 4.3 本章总结 | 第62-63页 |
| 第五章 调试结果和实际应用 | 第63-69页 |
| 5.1 调试结果 | 第63-64页 |
| 5.2 误差分析与校准 | 第64-66页 |
| 5.3 实际应用测试 | 第66-68页 |
| 5.4 本章总结 | 第68-69页 |
| 第六章 总结及展望 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-73页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第73-74页 |
