| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-12页 |
| 1.1 集成电路测试产业及发展现状 | 第9-10页 |
| 1.2 本课题的研究意义 | 第10页 |
| 1.3 本课题的研究历程以及初步研究成果 | 第10-11页 |
| 1.4 本论文的研究内容 | 第11-12页 |
| 第二章 IC测试系统架构 | 第12-16页 |
| 2.1 IC测试系统概述 | 第12-13页 |
| 2.2 IC测试系统中的通信管理机制 | 第13-15页 |
| 2.3 总结 | 第15-16页 |
| 第三章 IC测试系统中时间间隔测量技术的研究 | 第16-39页 |
| 3.1 时间间隔测量概述 | 第16-17页 |
| 3.2 时间间隔测量的Nutt结构 | 第17页 |
| 3.3 时间-数字转换方法 | 第17-27页 |
| 3.3.1 计数式TDC方法 | 第18-19页 |
| 3.3.2 时间间隔扩展法 | 第19-20页 |
| 3.3.3 时间-电压转换法 | 第20-21页 |
| 3.3.4 Vernier方法 | 第21-23页 |
| 3.3.5 抽头延迟线法 | 第23-26页 |
| 3.3.6 多路相移时钟计数法 | 第26-27页 |
| 3.4 多级内插的Nutt结构TDC电路实现 | 第27-38页 |
| 3.4.1 TDC电路设计方案 | 第27-28页 |
| 3.4.2 时间-数字转换电路中的同步化模块 | 第28-31页 |
| 3.4.3 宽范围时间测量模块：计数式的TDC电路 | 第31-32页 |
| 3.4.4 TDC电路的内插模块：时钟相移的初级内插电路 | 第32-36页 |
| 3.4.5 TDC电路的内插模块：抽头延迟线原理的二次内插电路 | 第36-38页 |
| 3.5 总结 | 第38-39页 |
| 第四章 IC测试系统中时间参数测量单元的设计和实现 | 第39-71页 |
| 4.1 时间参数测量单元概述 | 第39页 |
| 4.2 时间参数测量单元的硬件电路设计 | 第39-54页 |
| 4.2.1 时间检测模块：Time Discriminator | 第40-47页 |
| 4.2.1.1 选通电路 | 第41-43页 |
| 4.2.1.2 比较器和转换电路 | 第43-45页 |
| 4.2.1.3 阈值设定电路 | 第45-47页 |
| 4.2.2 管理控制模块：FPGA平台 | 第47-53页 |
| 4.2.2.1 可编程逻辑单元 | 第48-50页 |
| 4.2.2.2 输入/输出IO块的阻抗匹配 | 第50-51页 |
| 4.2.2.3 FPGA配置电路 | 第51-53页 |
| 4.2.3 电源模块 | 第53-54页 |
| 4.2.4 小结 | 第54页 |
| 4.3 时间测量单元的底层驱动架构设计 | 第54-70页 |
| 4.3.1 总线规划 | 第55-57页 |
| 4.3.2 硬件控制模块 | 第57-59页 |
| 4.3.3 参数测量模块：Time Block | 第59-67页 |
| 4.3.3.1 数据流模块：参数类型解析器 | 第60-63页 |
| 4.3.3.2 数据流模块：测量器和数据运算器 | 第63-65页 |
| 4.3.3.3 数据流控制器 | 第65-67页 |
| 4.3.4 参数测量结果的存取模块 | 第67-68页 |
| 4.3.5 功能板中两块FPGA总线共享方案 | 第68-70页 |
| 4.4 总结 | 第70-71页 |
| 第五章 IC测试系统中时间参数的指令化及验证 | 第71-86页 |
| 5.1 面向用户的参数指令概述 | 第71-72页 |
| 5.2 时间测量参数的指令化设计 | 第72-78页 |
| 5.3 时间测量参数指令优化及功能板的指令集 | 第78-81页 |
| 5.4 时间参数测量单元的测试验证 | 第81-85页 |
| 5.5 总结 | 第85-86页 |
| 第六章 结论 | 第86-87页 |
| 致谢 | 第87-88页 |
| 参考文献 | 第88-90页 |
| 攻硕期间获得的研究成果 | 第90-91页 |
