首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--微电子学、集成电路(IC)论文--一般性问题论文--测试和检验论文

IC测试系统中时间参数测量单元的研究

摘要第5-6页
ABSTRACT第6页
第一章 绪论第9-12页
    1.1 集成电路测试产业及发展现状第9-10页
    1.2 本课题的研究意义第10页
    1.3 本课题的研究历程以及初步研究成果第10-11页
    1.4 本论文的研究内容第11-12页
第二章 IC测试系统架构第12-16页
    2.1 IC测试系统概述第12-13页
    2.2 IC测试系统中的通信管理机制第13-15页
    2.3 总结第15-16页
第三章 IC测试系统中时间间隔测量技术的研究第16-39页
    3.1 时间间隔测量概述第16-17页
    3.2 时间间隔测量的Nutt结构第17页
    3.3 时间-数字转换方法第17-27页
        3.3.1 计数式TDC方法第18-19页
        3.3.2 时间间隔扩展法第19-20页
        3.3.3 时间-电压转换法第20-21页
        3.3.4 Vernier方法第21-23页
        3.3.5 抽头延迟线法第23-26页
        3.3.6 多路相移时钟计数法第26-27页
    3.4 多级内插的Nutt结构TDC电路实现第27-38页
        3.4.1 TDC电路设计方案第27-28页
        3.4.2 时间-数字转换电路中的同步化模块第28-31页
        3.4.3 宽范围时间测量模块:计数式的TDC电路第31-32页
        3.4.4 TDC电路的内插模块:时钟相移的初级内插电路第32-36页
        3.4.5 TDC电路的内插模块:抽头延迟线原理的二次内插电路第36-38页
    3.5 总结第38-39页
第四章 IC测试系统中时间参数测量单元的设计和实现第39-71页
    4.1 时间参数测量单元概述第39页
    4.2 时间参数测量单元的硬件电路设计第39-54页
        4.2.1 时间检测模块:Time Discriminator第40-47页
            4.2.1.1 选通电路第41-43页
            4.2.1.2 比较器和转换电路第43-45页
            4.2.1.3 阈值设定电路第45-47页
        4.2.2 管理控制模块:FPGA平台第47-53页
            4.2.2.1 可编程逻辑单元第48-50页
            4.2.2.2 输入/输出IO块的阻抗匹配第50-51页
            4.2.2.3 FPGA配置电路第51-53页
        4.2.3 电源模块第53-54页
        4.2.4 小结第54页
    4.3 时间测量单元的底层驱动架构设计第54-70页
        4.3.1 总线规划第55-57页
        4.3.2 硬件控制模块第57-59页
        4.3.3 参数测量模块:Time Block第59-67页
            4.3.3.1 数据流模块:参数类型解析器第60-63页
            4.3.3.2 数据流模块:测量器和数据运算器第63-65页
            4.3.3.3 数据流控制器第65-67页
        4.3.4 参数测量结果的存取模块第67-68页
        4.3.5 功能板中两块FPGA总线共享方案第68-70页
    4.4 总结第70-71页
第五章 IC测试系统中时间参数的指令化及验证第71-86页
    5.1 面向用户的参数指令概述第71-72页
    5.2 时间测量参数的指令化设计第72-78页
    5.3 时间测量参数指令优化及功能板的指令集第78-81页
    5.4 时间参数测量单元的测试验证第81-85页
    5.5 总结第85-86页
第六章 结论第86-87页
致谢第87-88页
参考文献第88-90页
攻硕期间获得的研究成果第90-91页

论文共91页,点击 下载论文
上一篇:纳米工艺下低压低功耗高精度电压基准源的研究与设计
下一篇:IC自动测试系统中精密测量单元的设计与实现