基于模拟IC自动测试仪的任意波形发生器设计与实现
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 集成电路自动测试系统发展及现状 | 第9-10页 |
| 1.2 任意波形发生器发展过程 | 第10-12页 |
| 1.3 本课题来源及意义 | 第12页 |
| 1.4 本课题研究内容及架构 | 第12-14页 |
| 第二章 系统硬件架构设计 | 第14-22页 |
| 2.1 模拟IC自动测试仪系统硬件架构 | 第14-15页 |
| 2.2 任意波形发生器的理论分析 | 第15-20页 |
| 2.2.1 直接数字波形合成(DDWS) | 第15-16页 |
| 2.2.2 直接数字频率合成(DDFS) | 第16-20页 |
| 2.3 任意波形发生器硬件架构设计 | 第20-21页 |
| 2.4 本章总结 | 第21-22页 |
| 第三章 AWG硬件设计实现 | 第22-47页 |
| 3.1 FPGA及其配置电路的设计 | 第22-23页 |
| 3.2 波形存储电路的设计 | 第23-25页 |
| 3.3 DAC产生波形电路 | 第25-27页 |
| 3.4 滤波电路 | 第27-29页 |
| 3.5 差分转单端模块 | 第29-30页 |
| 3.6 信号幅度调节模块 | 第30-35页 |
| 3.6.1 信号幅度粗调电路 | 第30-32页 |
| 3.6.2 信号幅度精调电路 | 第32-35页 |
| 3.7 直流偏置模块 | 第35-36页 |
| 3.8 输出阻抗选择模块 | 第36页 |
| 3.9 信号调理模块 | 第36-39页 |
| 3.9.1 信号调理模块辅助电路 | 第37页 |
| 3.9.2 ADC电路 | 第37-39页 |
| 3.10 同步输出模块 | 第39-40页 |
| 3.11 直流参数模块 | 第40-42页 |
| 3.12 高频正弦模块 | 第42-46页 |
| 3.13 本章总结 | 第46-47页 |
| 第四章 系统软件设计 | 第47-63页 |
| 4.1 模拟IC测试机用户界面设计 | 第47-58页 |
| 4.1.1 工程模式 | 第47-50页 |
| 4.1.2 生产模式 | 第50-58页 |
| 4.2 FPGA逻辑控制设计 | 第58-62页 |
| 4.3 本章总结 | 第62-63页 |
| 第五章 AWG硬件测试与验证 | 第63-74页 |
| 5.1 AWG硬件测试结果 | 第64-71页 |
| 5.1.1 AD9777产生的波形 | 第64-65页 |
| 5.1.2 滤波模块 | 第65-67页 |
| 5.1.3 差分转单端 | 第67-68页 |
| 5.1.4 精调模块 | 第68页 |
| 5.1.5 粗调模块 | 第68-69页 |
| 5.1.6 幅度偏移电路 | 第69-70页 |
| 5.1.7 ADC采样电路 | 第70-71页 |
| 5.2 AWG系统输出 | 第71-73页 |
| 5.2.1 ARB模式输出波形 | 第71-72页 |
| 5.2.2 高频正弦模式输出波形 | 第72-73页 |
| 5.2.3 设计未解决的问题 | 第73页 |
| 5.3 本章总结 | 第73-74页 |
| 第六章 结论与展望 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-78页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第78-79页 |
