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基于JTAG接口电路测试系统的上位机软件设计与实现

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第10-13页
    1.1 课题研究背景及意义第10-11页
    1.2 边界扫描测试研究现状第11-12页
    1.3 本文主要研究内容第12页
    1.4 文章组织结构第12-13页
第二章 边界扫描原理及关键技术研究第13-27页
    2.1 边界扫描总体结构第13页
    2.2 TAP端第13-14页
    2.3 TAP控制器第14-15页
    2.4 指令寄存器第15-16页
    2.5 数据寄存器第16-19页
        2.5.1 边界扫描寄存器第16-17页
        2.5.2 旁路寄存器第17页
        2.5.3 器件标识寄存器第17-18页
        2.5.4 指令第18-19页
    2.6 测试文件分析第19-23页
        2.6.1 网表文件分析第19-20页
        2.6.2 BSDL文件分析第20-23页
    2.7 板级边界扫描测试基础理论第23-27页
        2.7.1 板级边界扫描测试电路扩展第23-25页
        2.7.2 边界扫描测试流程第25-27页
第三章 边界扫描测试系统的需求分析及总体设计第27-31页
    3.1 边界扫描系统的总体结构第27页
    3.2 边界扫描测试软件总体方案第27-31页
        3.2.1 软件需求分析第27-28页
        3.2.2 软件编程平台简介第28-29页
        3.2.3 软件功能模块划分第29-31页
第四章 边界扫描测试软件设计第31-61页
    4.1 BSDL文件处理模块第31-45页
        4.1.1 BSDL文件处理模块的封装第31-33页
        4.1.2 BSDL文件信息读取第33-42页
        4.1.3 BSDL文件信息可视化处理第42-45页
    4.2 网表文件处理模块第45-49页
        4.2.1 整体模块的封装第45-46页
        4.2.2 网表文件读取第46-49页
    4.3 测试矢量生成模块第49-51页
        4.3.1 整体模块封装第49-50页
        4.3.2 获取芯片ID码第50页
        4.3.3 实时获取芯片管脚状态第50-51页
        4.3.4 设置芯片管脚状态第51页
    4.4 USB通信模块第51-54页
        4.4.1 整体模块封装第51-52页
        4.4.2 上位机与硬件控制器通信协议简介第52-53页
        4.4.3 Cypress CyAPI简介第53页
        4.4.4 USB设备即插即用支持第53-54页
    4.5 项目管理与界面部分设计第54-61页
        4.5.1 软件界面设计第54-55页
        4.5.2 软件界面介绍第55-57页
        4.5.3 测试工程管理第57-59页
        4.5.4 测试工程可移植性第59-61页
第五章 程序调试及功能验证第61-72页
    5.1 BSDL文件信息的读取与处理模块功能验证第61-63页
    5.2 上位机软件与硬件联调结果验证第63-71页
        5.2.1 ID码指令结果验证第65-67页
        5.2.2 采样指令结果验证第67-70页
        5.2.3 芯片管脚状态设置结果验证第70-71页
    5.3 软件性能测试第71-72页
第六章 全文总结与展望第72-73页
致谢第73-74页
参考文献第74-76页

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