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测试和检验
微流控芯片流体动态观测平台及实验研究
高精度电荷校准仪的研究及动态测试专用集成电路的检测与应用
面向系统芯片测试的设计优化技术研究
基于计算机视觉的印刷电路板自动检测系统的研究
密集型集成电路条式并行测试机的设计及研究
混合信号电路故障诊断的内建自测试（BIST）方法研究
基于边界扫描的测试算法和BIST设计技术研究
电路板热像图配准算法研究
电路故障红外实时检测系统研究
集成电路低功耗测试方法研究
USB-1149.1边界扫描测试控制器的设计
FLASH测试器的设计与实现
数模混合电路的故障诊断及可测性研究
基于寄存器传输级层次模型的测试生成研究
模拟验证中覆盖评估技术的研究
DSPC50的可测性设计及电路实现
关于HDL测试的研究
PCBs故障红外诊断系统中基于遗传算法的图像处理研究
CCD生物芯片检测仪研制
结合图像分析的微区薄层电阻四探针测试技术研究
基于机器微视觉的MEMS平面微运动测试技术的研究
印刷线路板图像检测方法和系统研究
基于冒险分析的低功耗设计和基于测试的设计验证
异构型集成电路实时并行测试系统—理论、方法和实践
基于知识的智能诊断系统LSTS_IDS的设计与实现
数模混合信号芯片的测试与可测性设计研究
半定制/全定制混合设计流程中验证方法研究
基于VLX++库的事务级验证方法研究
集成电路HPM损伤的计算机模拟
微器件细小喷淋冲击冷却流场及形成的薄液膜特性研究
深亚微米工艺下芯片的IDDQ测试技术的研究及应用
高可信IP核交付标准研究
基于IP核测试复用的SoC测试结构研究与设计
基于伪随机测试的混合信号BIST研究
基于功能测试的数模混合BIST设计
应用于生物芯片中的CMOS荧光检测系统的设计和研究
视频解码芯片测试程序的开发
系统级芯片的可测性研究与实践
JTAG控制器的设计
片上网络通讯结构可测性设计
StrongARM处理器的测试结构的设计
基于SOC的PCL验证和设计
基于51核SoC的功能验证
Orion芯片X8并行测试的开发及投产
PUMA芯片成品测试的开发及投产
基于边界扫描技术的电路板测试研究
AMBA2.0在MPEG-2 DECODER芯片中的实现及软硬件协同验证
集成电路低功耗内建自测试技术的研究
边界扫描测试全自动化的应用研究
基于遗传—折叠计数的低功耗确定BIST研究
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