基于遗传—折叠计数的低功耗确定BIST研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-20页 |
| ·研究背景 | 第10-15页 |
| ·低功耗测试研究意义 | 第10-12页 |
| ·集成电路测试技术概述 | 第12-15页 |
| ·BIST低功耗测试研究现状 | 第15-17页 |
| ·论文主要研究工作 | 第17-18页 |
| ·论文结构 | 第18-20页 |
| 第2章 低功耗测试方案研究基础 | 第20-37页 |
| ·BIST测试概述 | 第20-26页 |
| ·测试激励生成 | 第20-21页 |
| ·测试响应分析 | 第21-22页 |
| ·测试数据压缩 | 第22-23页 |
| ·BIST结构 | 第23-26页 |
| ·测试功耗分析 | 第26-29页 |
| ·功耗分类及功耗评估 | 第26-28页 |
| ·BIST测试高功耗原因 | 第28-29页 |
| ·遗传算法 | 第29-36页 |
| ·遗传算法的基本概念 | 第29-30页 |
| ·遗传算法的设计步骤 | 第30-32页 |
| ·遗传算法的关键技术 | 第32-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第3章 BIST确定测试ATPG研究 | 第37-48页 |
| ·确定测试存储与生成技术研究 | 第37-39页 |
| ·测试向量压缩存储技术 | 第37-38页 |
| ·测试生成技术 | 第38-39页 |
| ·折叠计数方法研究与改进 | 第39-43页 |
| ·传统折叠计数方法 | 第39-40页 |
| ·折叠序列特征分析 | 第40-41页 |
| ·折叠计数方法改进 | 第41-43页 |
| ·基于折叠计数的测试结构 | 第43-47页 |
| ·重播种方案 | 第43-44页 |
| ·不重播种方案 | 第44-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第4章 BIST低功耗确定测试向量优化 | 第48-59页 |
| ·遗传算法编码方法设计 | 第48-49页 |
| ·适应度函数设计 | 第49-52页 |
| ·遗传演化参数设计 | 第52-56页 |
| ·算法描述 | 第56-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第5章 实验及结果分析 | 第59-71页 |
| ·仿真实例 | 第59-67页 |
| ·实验结果及分析 | 第67-70页 |
| ·本章小结 | 第70-71页 |
| 结论 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-77页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及取得的科研成果 | 第77-78页 |
| 致谢 | 第78页 |
