| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-20页 |
| ·集成电路测试的目的与意义 | 第9-11页 |
| ·可测性设计的概念 | 第11-15页 |
| ·集成电路测试的国内外研究现状及面临的挑战 | 第15-17页 |
| ·论文的研究内容及章节安排 | 第17-20页 |
| 第二章 内建自测试组成 | 第20-38页 |
| ·内建自测试概述 | 第20-27页 |
| ·测试向量生成技术 | 第27-29页 |
| ·测试响应数据压缩 | 第29-32页 |
| ·特征响应分析技术 | 第32-38页 |
| 第三章 低功耗内建自测试理论 | 第38-66页 |
| ·伪随机测试向量生成器 | 第38-45页 |
| ·低功耗测试技术 | 第45-51页 |
| ·低功耗BIST设计主要研究成果 | 第51-59页 |
| ·低功耗单输入跳变测试理论的研究 | 第59-66页 |
| 第四章 FGGA Advantage环境下BIST的实现 | 第66-85页 |
| ·Mentor Graphics的FPGA Advantage开发环境 | 第66-68页 |
| ·BIST结构的VHDL描述 | 第68-75页 |
| ·理论分析与FPGA Advantage环境下的BIST仿真研究 | 第75-80页 |
| ·基于FPGA的硬件验证系统 | 第80-85页 |
| 第五章 柔性信号处理电路及其可测性技术 | 第85-102页 |
| ·电荷耦合器件概述 | 第85-90页 |
| ·柔性信号处理电路的研究 | 第90-95页 |
| ·FIR滤波器的可测性设计技术 | 第95-101页 |
| ·本章小结 | 第101-102页 |
| 第六章 总结与展望 | 第102-104页 |
| 致谢 | 第104-105页 |
| 主要参考文献 | 第105-116页 |
| 附录 | 第116-126页 |
| 己发表的学术论文 | 第126-127页 |
| 攻读博士学位期间主要科研情况 | 第127-128页 |
| 攻读博士学位期间的获奖情况 | 第128-129页 |
