| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-10页 |
| 第1章 引言 | 第10-16页 |
| ·论文的研究背景 | 第10-11页 |
| ·国内外研究近况 | 第11-12页 |
| ·论文的动机和目标 | 第12-13页 |
| ·论文的主要工作和创新 | 第13-16页 |
| 第2章 荧光检测技术的研究 | 第16-20页 |
| ·荧光检测技术 | 第16-17页 |
| ·荧光检测系统研究 | 第17-19页 |
| ·小结 | 第19-20页 |
| 第3章 光电探测器的设计 | 第20-35页 |
| ·适用于荧光检测系统的探测器 | 第20-24页 |
| ·光电倍增管(PMT) | 第20页 |
| ·雪崩二极管(APD) | 第20-21页 |
| ·电荷耦合器件(CCD) | 第21-22页 |
| ·CMOS工艺兼容器件 | 第22-24页 |
| ·CMOS光电二极管光电转换模型分析 | 第24-33页 |
| ·半导体光吸收 | 第24-26页 |
| ·光电转换模型建立 | 第26-31页 |
| ·光电二极管暗电流分析 | 第31-33页 |
| ·仿真结果 | 第33-34页 |
| ·小结 | 第34-35页 |
| 第4章 光电传感器读出电路设计 | 第35-49页 |
| ·光电探测器主要噪声源 | 第35-37页 |
| ·传统3T型读出电路 | 第37-42页 |
| ·积分电容非线性 | 第38-39页 |
| ·复位噪声影响 | 第39-41页 |
| ·复位误差 | 第41-42页 |
| ·暗电流影响 | 第42页 |
| ·伪差分CTIA型读出电路 | 第42-48页 |
| ·工作原理 | 第42-44页 |
| ·性能比较 | 第44-48页 |
| ·小结 | 第48-49页 |
| 第5章 模数转换器的体系结构优化和电路设计 | 第49-83页 |
| ·ADC设计基础 | 第49-55页 |
| ·性能参数定义 | 第49-51页 |
| ·非理想因素及影响 | 第51-55页 |
| ·流水线ADC体系结构优化 | 第55-61页 |
| ·基于结构优化的12-bit，10-MS/s流水线型ADC的设计 | 第61-82页 |
| ·2.5位级电路设计 | 第61-69页 |
| ·OTA的设计 | 第69-72页 |
| ·比较器的设计 | 第72-74页 |
| ·其它模块 | 第74-77页 |
| ·版图设计 | 第77-82页 |
| ·小结 | 第82-83页 |
| 第6章 实验结果 | 第83-102页 |
| ·光电探测器及读出电路测试 | 第83-86页 |
| ·ADC测试 | 第86-91页 |
| ·ADC测试方案 | 第86-87页 |
| ·PCB设计 | 第87-88页 |
| ·测试结果及分析 | 第88-91页 |
| ·荧光检测实验 | 第91-101页 |
| ·小结 | 第101-102页 |
| 第7章 总结与展望 | 第102-104页 |
| 参考文献 | 第104-112页 |
| 攻读博士学位期间发表的论文 | 第112-113页 |
| 致谢 | 第113-114页 |