| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 第一章 待测芯片介绍 | 第5-8页 |
| 第一节 待测芯片GX2001简介 | 第5-6页 |
| 第二节 芯片框架介绍 | 第6-8页 |
| 第二章 芯片测试说明及测试要求 | 第8-14页 |
| 第一节 芯片封装类型 | 第8-9页 |
| 第二节 测试说明 | 第9-12页 |
| 第三节 测试说明分析 | 第12-14页 |
| 第三章 测试机台J750的介绍 | 第14-29页 |
| 第一节 J750简介 | 第14-16页 |
| 第二节 J750的硬件构成和特点 | 第16-18页 |
| 第三节 J750的编程软件介绍 | 第18-19页 |
| 第四节 使用IG-XL编写测试程序 | 第19-25页 |
| 第五节 测试向量的生成和SmarTest PG介绍 | 第25-29页 |
| 第四章 测试程序开发 | 第29-39页 |
| 第一节 LoadBoard的设计和制作 | 第29-30页 |
| 第二节 测试程序开发 | 第30-31页 |
| 第三节 参数测试部分的开发-Open/Shorts | 第31-33页 |
| 第四节 参数测试部分的开发-SICC/DICC | 第33页 |
| 第五节 参数测试部分的开发-VIH/VIL和VOH/VOL | 第33-34页 |
| 第六节 PLL测试的开发 | 第34-36页 |
| 第七节 DAC测试的开发 | 第36-39页 |
| 第五章 测试程序调试 | 第39-44页 |
| 第一节 Open/Short调试 | 第39-40页 |
| 第二节 ATPG和BIST测试的调试 | 第40-41页 |
| 第三节 PLL和DAC测试的调试 | 第41-42页 |
| 第四节 其余DC测试的调试 | 第42-44页 |
| 结论 | 第44-45页 |
| 参考文献 | 第45-46页 |
