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PUMA芯片成品测试的开发及投产

摘要第1-4页
Abstract第4-7页
第一章 引言第7-9页
   ·测试综述第7页
   ·本课题任务第7-9页
第二章 半导体芯片测试简介第9-16页
   ·集成电路简介第9-10页
     ·集成电路设计与制造的流程第9-10页
   ·芯片测试第10-16页
     ·测试机(ATE)第11-12页
     ·自动分料机(Handler)第12-13页
     ·测试板第13-14页
     ·芯片测试软件(测试程序)第14-16页
第三章 PUMA芯片简介第16-26页
   ·芯片主要特性及简单描述第16-19页
   ·芯片参数第19-23页
     ·芯片静态参数第19-21页
     ·芯片动态参数第21-22页
     ·SPI第22-23页
   ·应用举例第23-26页
第四章 PUMA芯片测试机的选定和测试板的开发第26-54页
   ·测试机的选定第26-30页
     ·测试机测试能力考察第26-29页
     ·现有MiST测试机资源配置清单及特性第29-30页
     ·测试机测试成本考察第30页
     ·测试机选定结论第30页
   ·PUMA 测试要求及测试项第30-35页
   ·测试板的设计第35-37页
   ·继电器在测试板设计中的应用第37-54页
     ·传统继电器的概述第37-40页
     ·电子继电器的电路原理分析第40-50页
     ·电子继电器的电路设计第50-54页
第五章 PUMA芯片测试程序的开发和测试结果的分析第54-71页
   ·测试程序开发第54-66页
   ·测试结果分析第66-71页
第六章 结束语第71-72页
参考文献第72-74页
发表论文和参加科研情况说明第74-75页
致谢第75页

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