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测试和检验
基于边界扫描技术的PCB功能模件测试方法的研究
电子系统内建自测试技术研究
低测试成本的确定性内建自测试（BIST）的研究
高速并行光互连芯片的测试与验证分析
IC互连中的缺陷检测方法及缺陷对电路可靠性的影响
集成电路成品率测试结构自动实现与研究
边界扫描测试算法和BIST技术的研究与实现
基于FPGA的边界扫描控制器的设计
RTL数据通路内部功能模块产生测试向量方法研究
利用无关位增加测试向量分组的长度
面向给定测试集的自反馈测试方法研究
时延测试故障模拟方法研究
基于SOPC的自反馈测试序列搜索算法的研究与实现
受控线性移位测试生成方法研究
基于扫描链阻塞技术降低测试费用的方法研究
片上网络低费用测试方法研究
动态扩展相容性扫描树
基于磁场映像的电路板故障诊断研究与实现
基于Teradyne J750测试平台的射频芯片低成本测试方案开发及实现
提高测试效率新方案的研究--基于开路误测的解决方法
汽车智能功率集成电路低成本测试技术研究
微处理器芯片平台测试系统的研究及优化
I2C总线、JTAG总线在电源管理类芯片测试中的应用
XGOLD110基带芯片与XPOSYS定位芯片系统集成评估方法研究
一种标准单元库功能测试模块的设计
I2C和DMA软核IP的软件验证平台设计
EGV3手机基带芯片中GPTU模块的验证
基于嵌入式DLL的BIST设计
基于PCI总线接口芯片的验证与测试
适用于MRAM的集成电路测试方法研究
虚拟仪器技术在新型军用电路板自动测试系统中的应用研究
三维集成电路测试时间的优化方法研究
基于扫描的低功耗测试方法研究
基于USB接口的软硬件协同验证平台设计
多通道高精度集成电路直流参数测试
图形化编程在集成电路测试软件平台中的研究与应用
集成电路测试仪总体软件与人机界面设计
基于AHB接口的USB2.0 OTG IP核验证
集成电路测试仪的总线接口与驱动程序设计
集成电路动态特性的时域参数测试
基于虚拟仪器的电路板测试系统的研究
基于ULPI接口的USB2.0-OTG IP验证方法研究与实现
集成电路测试仪控制电路与分选系统接口技术研究
复杂数字电路板的可测性研究
并行电泳通道芯片检测系统设计与实现
基于重用验证方法学的信道重编码系统功能验证研究
基于FPGA边界扫描单元的多芯片数字测试
EPA网络芯片验证平台的设计与实现
基于Golomb码测试压缩技术的研究与仿真测试
基于LFSR重播种的测试压缩技术的研究与仿真测试
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