基于功能测试的数模混合BIST设计
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 引言 | 第8-12页 |
| ·研究背景及意义 | 第8-9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-10页 |
| ·论文研究内容 | 第10-11页 |
| ·本章小结 | 第11-12页 |
| 第二章 数模混合电路测试 | 第12-17页 |
| ·数模混合电路测试任务 | 第12页 |
| ·数模混合电路可测性设计方法 | 第12-16页 |
| ·传统ATE测试方法 | 第13页 |
| ·基于扫描设计 | 第13-14页 |
| ·边界扫描 | 第14页 |
| ·内建自测试 | 第14-16页 |
| ·本章小结 | 第16-17页 |
| 第三章 BIST总体设计 | 第17-22页 |
| ·BIST基本原理 | 第17-18页 |
| ·BIST结构设计 | 第18-20页 |
| ·BIST整体工作流程设计 | 第20-21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 第四章 BIST控制器设计 | 第22-30页 |
| ·控制器结构设计 | 第22-23页 |
| ·控制器状态机设计 | 第23-24页 |
| ·控制模块设计 | 第24-29页 |
| ·测试功能模块编解码设计 | 第24-25页 |
| ·数据存储器读写操作控制设计 | 第25-26页 |
| ·地址生成模块设计 | 第26页 |
| ·采样控制模块设计 | 第26-28页 |
| ·控制器工作流程设计 | 第28-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第五章 测试激励信号的生成 | 第30-37页 |
| ·无失真离散积分振荡器原理及改进 | 第30-31页 |
| ·传统的无失真离散积分振荡器 | 第30-31页 |
| ·改进的无失真离散积分振荡器 | 第31页 |
| ·过采样DAC 的原理及设计 | 第31-36页 |
| ·Σ -Δ调制原理及设计 | 第32-35页 |
| ·低通滤波器的设计 | 第35-36页 |
| ·测试激励生成 | 第36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第六章 数据处理器设计 | 第37-50页 |
| ·数据处理器结构设计 | 第37-38页 |
| ·处理器模块设计 | 第38-49页 |
| ·FIR滤波器设计 | 第38-41页 |
| ·时序同步器设计 | 第41页 |
| ·采样值寄存器的设计 | 第41-42页 |
| ·标准值寄存器的设计与配置 | 第42-43页 |
| ·容差计算器的设计 | 第43-44页 |
| ·误差合成计算器设计 | 第44-48页 |
| ·合成误差容差计算器设计 | 第48-49页 |
| ·数据处理器顶层设计 | 第49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第七章 系统仿真验证 | 第50-56页 |
| ·系统仿真 | 第50-51页 |
| ·系统验证 | 第51-55页 |
| ·被测电路的组成 | 第51-52页 |
| ·测试插入点的选择 | 第52-53页 |
| ·测试参数设置 | 第53页 |
| ·测试步骤 | 第53-54页 |
| ·测试结果与分析 | 第54-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第八章 结论和展望 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 作者在攻读硕士期间的主要研究成果 | 第61-62页 |
| 附录A:系统仿真程序 | 第62-68页 |
| 附录B:采样控制器程序 | 第68-73页 |
| 附录C:FIR滤波器程序代码 | 第73-75页 |
| 附录D:加法器树乘法器 | 第75-76页 |
