基于边界扫描技术的电路板测试研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第1章 引言 | 第8-12页 |
| ·本文的背景及意义 | 第8-9页 |
| ·本文相关技术的发展现状 | 第9-10页 |
| ·本文的任务和研究方法 | 第10-11页 |
| ·论文结构安排 | 第11-12页 |
| 第2章 边界扫描技术基础 | 第12-19页 |
| ·边界扫描器件结构 | 第12-14页 |
| ·边界扫描描述语言 | 第14-15页 |
| ·边界扫描指令 | 第15-16页 |
| ·互连测试工作原理 | 第16-19页 |
| 第3章 边界扫描技术的应用实践 | 第19-33页 |
| ·边界扫描测试系统的设计 | 第19-28页 |
| ·测试系统的构成 | 第20-21页 |
| ·测试软件的开发 | 第21-28页 |
| ·基于边界扫描的可测性设计 | 第28-31页 |
| ·边界扫描电路设计的基本原则 | 第29页 |
| ·边界扫描链路的可测性设计 | 第29-30页 |
| ·提高测试覆盖率的可测性设计 | 第30页 |
| ·在线编程方面的可测性设计 | 第30-31页 |
| ·本章小结 | 第31-33页 |
| 第4章 互连测试算法研究 | 第33-60页 |
| ·本章引论 | 第33页 |
| ·互连测试的基本概念 | 第33-36页 |
| ·现有算法综述 | 第36-44页 |
| ·测试向量生成算法 | 第36-42页 |
| ·自适应测试算法 | 第42-43页 |
| ·基于混合故障的测试算法 | 第43-44页 |
| ·基于反向测试的自适应算法 | 第44-59页 |
| ·故障模型 | 第44-45页 |
| ·基本测试方案 | 第45页 |
| ·初步测试算法的选择 | 第45-49页 |
| ·排除已达到最大诊断的线网 | 第49-51页 |
| ·完备诊断算法的选择 | 第51-53页 |
| ·基于反向测试的自适应算法 | 第53-55页 |
| ·算法分析和比较 | 第55-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 第5章 结论 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第65页 |
