边界扫描测试全自动化的应用研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 1 绪论 | 第7-12页 |
| ·问题的提出及研究意义 | 第7-8页 |
| ·问题的提出 | 第7-8页 |
| ·研究的意义 | 第8页 |
| ·国内外研究现状 | 第8-10页 |
| ·自动化测试技术的研究应用现状 | 第8-9页 |
| ·测试矢量生成算法的研究现状 | 第9-10页 |
| ·本文研究的目的和研究内容 | 第10-12页 |
| ·本文研究的目的 | 第10页 |
| ·本文的主要工作 | 第10-12页 |
| 2 边界扫描测试技术的原理分析 | 第12-20页 |
| ·引言 | 第12页 |
| ·边界扫描技术的含义 | 第12页 |
| ·边界扫描的硬件结构 | 第12-17页 |
| ·边界扫描的整体结构 | 第12-13页 |
| ·I/O 信号线 | 第13-14页 |
| ·BST 寄存器单元 | 第14-16页 |
| ·TAP 控制器 | 第16-17页 |
| ·边界扫描测试方式 | 第17-19页 |
| ·外测试（EXTEST） | 第18页 |
| ·内测试（INTEST） | 第18-19页 |
| ·采样测试方式（SAMPLE/PRELOAD） | 第19页 |
| ·本章小结 | 第19-20页 |
| 3 基于边界扫描技术的测试理论 | 第20-29页 |
| ·引言 | 第20页 |
| ·基本概念 | 第20-23页 |
| ·基本定义和定理 | 第20-22页 |
| ·故障模型分类 | 第22-23页 |
| ·边界扫描语言（BSDL） | 第23-24页 |
| ·BSDL 标准介绍 | 第23页 |
| ·边界扫描语言描述示例 | 第23-24页 |
| ·通用串行矢量格式（SVF） | 第24-26页 |
| ·SVF 标准介绍 | 第24-25页 |
| ·通用串行矢量格式示例 | 第25-26页 |
| ·故障检测及定位 | 第26-27页 |
| ·故障诊断方法 | 第26-27页 |
| ·故障检测步骤 | 第27页 |
| ·本章小结 | 第27-29页 |
| 4 边界扫描测试控制器设计 | 第29-47页 |
| ·引言 | 第29页 |
| ·控制器硬件设计方案 | 第29-33页 |
| ·控制器硬件总体方案 | 第29-30页 |
| ·芯片选型与介绍 | 第30-33页 |
| ·控制器软件件设计方案 | 第33-45页 |
| ·软件设计总体方案 | 第33-34页 |
| ·USB 接口驱动程序设计 | 第34-38页 |
| ·控制器内固件程序设计 | 第38-42页 |
| ·PC 机端应用程序设计 | 第42-45页 |
| ·本章小结 | 第45-47页 |
| 5 测试矢量生成算法的研究与改进 | 第47-61页 |
| ·引言 | 第47页 |
| ·经典互连测试矢量生成算法 | 第47-51页 |
| ·走步1 序列测试矢量生成算法 | 第47-48页 |
| ·走步0 序列测试矢量生成算法 | 第48页 |
| ·二进制计数序列测试矢量生成算法 | 第48-49页 |
| ·记数/补偿序列测试矢量生成算法 | 第49-50页 |
| ·最小权序列测试矢量生成算法 | 第50页 |
| ·最大独立集序列测试矢量生成算法 | 第50页 |
| ·W/C 步序列自适应测试矢量生成算法 | 第50-51页 |
| ·改进的互连测试抗误判算法 | 第51-56页 |
| ·征兆误判问题定义 | 第51页 |
| ·征兆误判问题表现 | 第51-52页 |
| ·改进算法的算法描述 | 第52-53页 |
| ·改进算法的抗误判验证 | 第53-54页 |
| ·改进算法举例 | 第54-55页 |
| ·改进算法的优劣分析 | 第55-56页 |
| ·测试矢量生成算法的编程实现与比较 | 第56-60页 |
| ·改进的测试矢量生成算法编程实现 | 第56-57页 |
| ·测试矢量生成算法的比较 | 第57-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 6 结论与展望 | 第61-63页 |
| ·主要结论 | 第61页 |
| ·后续研究工作的展望 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
| 附录 | 第66页 |
| 作者在攻读学位期间发表的论文目录 | 第66页 |
