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测试和检验
由被测电路自己产生测试向量的自动测试生成方法研究
数模混合信号芯片的测试与可测性设计研究
贴片产品缺陷机器视觉检测方法研究
深亚微米级IC晶片缺陷检测的机器视觉系统
基于蚁群算法的电路测试研究
基于事务的自动化验证平台的研究与实现
电路板元件贴装缺陷视觉检测系统
基于BDD和SAT的形式验证方法的研究
一种基于扫描阵列的快速低功耗可测性设计方法
数字集成电路测试压缩方法研究
集成电路多故障测试生成算法及可测性设计的研究
基于遗传优化的三值神经网络测试生成算法
基于SMT电子产品的无铅化技术研究及检测
基于粒子群算法和蚂蚁算法的瞬态电流测试生成研究
基于片段间转移的低功耗测试结构研究与实现
星载处理器流水线的BIST设计与实现
集成芯片测试及PCU06ESP的测试研究
系统级芯片的可测性设计研究
电路故障诊断可测性设计及低功耗测试研究
可测试性设计技术及应用研究
中小规模集成电路测试方法的分析与仿真实现
基于March C-算法的SRAM测试设计与实现
基于散射光信号分形的亚微米及纳米颗粒测量技术研究
用SpecmanE进行复杂协议处理芯片的自动化功能验证
硅底表面单粒子光散射研究
基于CDV的随机测试技术
SATA内建自测试的电路设计与实现
存储测试专用集成电路成测技术研究
MEMS应力测试研究
倾斜台、摇摆台精度校验装置的研制
大挠度屈曲理论的试验验证
MMC HOST控制器可测性设计
亚微米和深亚微米IC中的ESD保护结构研究
基于机器视觉技术的电路检测与实现
晶圆针测技术之异常问题分析与研究
基于ARM的USB2.0-AHB总线桥IP的验证方法研究以及设计实现
Cardbus-AHB总线桥IP核的验证方法研究和实现
芯片指向在线检测系统的开发和研究
集成电路性能测试机系统软件的研究与实现—GPIB（IEEE 488）总线
基于飞思卡尔8位MCU的集成电路功能失效分析技术
混合信号测试理论在生产测试中应用的研究
集成电路自动测试方法及可测性设计研究
VIP及其在验证平台中应用的研究
四探针相关问题的研究
集成电路的逻辑等价性验证研究
基于JTAG的板级互连测试技术的研究
集成电路微控制器的扫描测试以及内建自测试的研究
模拟验证中的激励产生与覆盖评估
芯片的测试向量转换技术研究与系统实现
微电路模块自动测试系统的研制
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