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测试和检验
深亚微米级IC的图像检测及自动分析技术研究
嵌入式IC晶片视觉检测系统技术研究及应用
表面贴装元件的快速检测和识别研究
组合电路测试生成算法研究
LC82380电路的测试技术研究
用于瞬态电流测试的测试向量对压缩技术研究
基于IDDT的BIST测试向量生成器的研究
基于断言的功能验证方法研究
Garfield芯片的可测性设计及测试生成
基于边界扫描测试技术的测试图形生成的研究
基因芯片检测仪的图像分析软件设计
SoC低成本测试技术与实现方法研究
基于嵌入式系统的MCM基板测试技术研究
USB接口的边界扫描测试控制器的设计与实现
电流信息在集成电路故障诊断中的应用研究
随机逻辑在线测试与容错结构的研究
基于嵌入式系统的新一代VLSI高温动态老化测试平台
跨平台转换IC测试系统的研究与实践
微控制器测试向量生成方法的研究和实现
微流控芯片检测仪
SoC设计平台片上总线及测试技术研究
集成电路测试系统后逻辑支持电路改进与模拟延迟线性能分析
利用USB接口实现的某协议控制器芯片测试系统的设计与研究
北桥芯片功能验证中的覆盖率分析
确定性逻辑内建自测试技术研究
IC晶片的机器视觉自动检测技术的研究
集成电路测试方法研究
数字集成电路电流测试技术研究
提高瞬态电流测试自动测试生成时间效率的方法及全速电流模拟
JX5芯片测试码的产生及故障模拟
系统级芯片的测试与可测性设计研究
边界扫描测试系统设计与实现
低功耗内建自测试设计方法研究
嵌入式memory内建自测试算法
覆盖率驱动的Garfield芯片Bottom-up功能验证方案的研究
印刷电路板边界扫描软件测试系统研究
基于NoC体系结构的测试研究
系统芯片（SOC）内嵌数字芯核的测试数据压缩技术研究
边界扫描技术研究
自动视觉系统在芯片印字检测中的应用研究
混合信号测试潜在质量可测性研究
ATE系统的结构分析与数据管理优化
悬浮式生物芯片检测系统中光学系统的研究
功能验证和MCU软核测试技术的研究
超大规模专用集成电路的功能仿真和验证
基于随机测试的SoC系统级验证方法研究
基于GA的矩阵式TSP算法及在飞针测试机上的应用研究
基于非确定门延时的瞬态电流测试生成算法研究及BIST测试产生器设计
低功耗内建自测试（BIST）设计技术的研究
电路板故障诊断算法及故障仿真研究
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