| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第一章 引言 | 第9-15页 |
| ·集成电路测试概述 | 第9-10页 |
| ·可测性设计 | 第10-12页 |
| ·可测性设计的概念 | 第10页 |
| ·可测性设计的方法 | 第10-12页 |
| ·论文的内容和结构 | 第12-15页 |
| 第二章 StrongARM处理器的体系结构及测试构架 | 第15-21页 |
| ·StrongARM处理器的功能特点 | 第15-16页 |
| ·StrongARM处理器的基本结构 | 第16-18页 |
| ·StrongARM处理器的测试架构 | 第18-21页 |
| 第三章 内部扫描测试 | 第21-29页 |
| ·扫描测试的产生 | 第21-22页 |
| ·扫描测试原理 | 第22-26页 |
| ·基本扫描单元 | 第22页 |
| ·扫描链结构 | 第22-24页 |
| ·扫描测试过程 | 第24-26页 |
| ·StrongARM处理器的扫描设计 | 第26-28页 |
| ·扫描策略 | 第26-27页 |
| ·扫描设计 | 第27-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第四章 嵌入式存储器BIST控制器的设计 | 第29-41页 |
| ·BIST介绍 | 第29-31页 |
| ·BIST结构 | 第29-30页 |
| ·采用BIST结构进行存储器测试 | 第30-31页 |
| ·存储器测试 | 第31-33页 |
| ·存储器的故障类型 | 第31-32页 |
| ·存储器测试算法 | 第32-33页 |
| ·BIST控制器的设计 | 第33-39页 |
| ·可编程BIST控制器的结构原理 | 第33-35页 |
| ·可编程BIST控制器的设计 | 第35-37页 |
| ·设计结果 | 第37-39页 |
| ·本章小结 | 第39-41页 |
| 第五章 边界扫描控制器的设计 | 第41-57页 |
| ·边界扫描的基本结构 | 第41-42页 |
| ·测试访问端口和TAP控制器的设计 | 第42-47页 |
| ·测试访问端口 | 第42页 |
| ·TAP控制器的状态转换 | 第42-45页 |
| ·TAP控制器的设计 | 第45-47页 |
| ·测试数据寄存器的设计 | 第47-48页 |
| ·边界扫描寄存器的设计 | 第47-48页 |
| ·旁路寄存器的设计 | 第48页 |
| ·指令和指令寄存器的设计 | 第48-51页 |
| ·测试指令 | 第49-50页 |
| ·指令寄存器单元的设计 | 第50-51页 |
| ·指令译码器的设计 | 第51页 |
| ·顶层模块设计和测试操作方式 | 第51-54页 |
| ·本章小结 | 第54-57页 |
| 第六章 结束语 | 第57-59页 |
| 致谢 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |
| 研究成果 | 第64-65页 |