| 中文摘要 | 第1-8页 |
| 英文摘要 | 第8-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1．1 红外热成像技术的发展与PCBs故障诊断 | 第10页 |
| 1．2 研究PCBs故障红外诊断技术的重要性及意义 | 第10-12页 |
| 1．3 国内外红外电路故障诊断技术的研究及现状 | 第12-13页 |
| 1．4 论文的主要工作和内容安排 | 第13-16页 |
| 第二章 PCBs故障红外诊断研究与分析 | 第16-29页 |
| 2．1 红外诊断的原理 | 第16页 |
| 2．2 红外辐射理论基础 | 第16-19页 |
| 2．2．1 基本概念 | 第16-17页 |
| 2．2．2 红外辐射特性 | 第17-18页 |
| 2．2．3 红外辐射的“大气窗口” | 第18-19页 |
| 2．2．4 红外辐射的探测 | 第19页 |
| 2．3 红外辐射定律 | 第19-22页 |
| 2．4 PCBs热状态与红外辐射特性的分析 | 第22-23页 |
| 2．5 红外热成像技术对PCBs故障的诊断能力 | 第23-26页 |
| 2．5．1 PCBs故障分析 | 第23-24页 |
| 2．5．2 不同元器件的故障百分率 | 第24页 |
| 2．5．3 对PCBs故障的可诊断性分析 | 第24-26页 |
| 2．6 红外热像仪 | 第26-29页 |
| 第三章 红外图像处理 | 第29-41页 |
| 3．1 数字图像处理概述 | 第29-31页 |
| 3．2 红外图像的表示 | 第31页 |
| 3．3 红外图像处理的基本方法 | 第31-32页 |
| 3．4 图像边缘检测 | 第32-39页 |
| 3．4．1 Roberts边缘检测 | 第33-34页 |
| 3．4．2 Sobel边缘检测 | 第34-35页 |
| 3．4．3 Prewitt边缘检测 | 第35-36页 |
| 3．4．4 Laplacian边缘检测 | 第36-37页 |
| 3．4．5 Canny边缘检测 | 第37-39页 |
| 3．5 检测结果与结论 | 第39-41页 |
| 第四章 基于遗传算法的图像配准 | 第41-55页 |
| 4．1 图像配准概述 | 第41-43页 |
| 4．1．1 图像配准技术 | 第41-43页 |
| 4．2 遗传算法理论 | 第43-47页 |
| 4．2．1 遗传算法基本概念 | 第43-45页 |
| 4．2．2 遗传算法的数学理论 | 第45-47页 |
| 4．3 图像配准的遗传算法设计 | 第47-53页 |
| 4．3．1 图像配准几何变换的数学描述 | 第47-48页 |
| 4．3．2 抽样子集的生成 | 第48-49页 |
| 4．3．3 遗传算法设计 | 第49-53页 |
| 4．4 仿真实验及结果讨论 | 第53-55页 |
| 第五章 PCBs故障红外诊断图像处理仿真系统设计 | 第55-60页 |
| 5．1 设计原理 | 第55页 |
| 5．2 硬件组成 | 第55-56页 |
| 5．3 软件设计 | 第56-58页 |
| 5．4 仿真结果 | 第58-60页 |
| 第六章 结论与展望 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 个人简历 | 第66页 |