微流控芯片流体动态观测平台及实验研究
| 1 绪论 | 第1-22页 |
| ·微流控芯片简介 | 第9-12页 |
| ·可视化方法在微流控芯片中的应用 | 第12-21页 |
| ·轨迹线法 | 第13-14页 |
| ·明场观测法 | 第14-15页 |
| ·uPIV微粒子粒子图像测速 | 第15-17页 |
| ·LIF激光诱导荧光方法 | 第17-21页 |
| ·层析技术 | 第21页 |
| ·本论文的主要工作和目标 | 第21-22页 |
| 2 基本输运理论 | 第22-29页 |
| ·电渗流 | 第22-24页 |
| ·输运模型 | 第24-26页 |
| ·弯曲与扩散 | 第26-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 3 uPIV实验平台的建立 | 第29-46页 |
| ·方案选择 | 第29-30页 |
| ·uPIV特点 | 第30-31页 |
| ·系统组成 | 第31-36页 |
| ·基本原理和总体结构 | 第31页 |
| ·示踪粒子 | 第31-32页 |
| ·激发光源 | 第32-33页 |
| ·显微镜 | 第33-34页 |
| ·CCD的限制因素 | 第34-36页 |
| ·uPIV参数确定 | 第36-40页 |
| ·光学系统模型 | 第36-37页 |
| ·光学分辨率 | 第37-39页 |
| ·测速范围 | 第39-40页 |
| ·微流控芯片动态观测平台实现 | 第40-45页 |
| ·uPIV实验平台设备 | 第40-42页 |
| ·参数标定 | 第42页 |
| ·互相关算法在粒子图像测速的应用 | 第42-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 4 微流控芯片电特性 | 第46-59页 |
| ·伏安特性与电阻模型 | 第46-49页 |
| ·伏安特性曲线测量 | 第49-51页 |
| ·电渗流测速方法 | 第51-52页 |
| ·电渗流速度测量 | 第52-55页 |
| ·电导法测速 | 第52-53页 |
| ·图像法测速 | 第53-55页 |
| ·实验结果比较 | 第55页 |
| ·不同宽度微流控芯片的淌度 | 第55-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 5 微流控芯片的进样与分离 | 第59-67页 |
| ·三种进样方式 | 第59-60页 |
| ·实验与仿真 | 第60-64页 |
| ·夹流进样的泄漏和改进 | 第64-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 6 结论与展望 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第73-75页 |
