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测试和检验
基于多扫描电路的内建自测试方法研究
基于演化硬件的演化电路自动化设计研究与应用
系统芯片可测性设计技术的研究
基于验证方法学的IC验证平台研究
高速互连串扰型故障测试研究
CIOQ交换网输入缓存的验证环境实现
Tag芯片的功能验证平台的设计
自动化故障模拟流程的开发
基于VMM的局端UGTC验证
基于覆盖率验证方法的IP核测试平台设计
成品率估计与提升技术研究
电路板故障诊断硬件平台中向量控制器设计
基于SIP的高速芯片协同测试
一种基于JTAG标准的X-DSP芯片调试/测试部件的设计与实现
覆盖率导向的功能验证方法研究与实现
X处理器调测试结构的设计与实现
DCScan：一种低功耗的扫描测试结构
基于扩展相容性扫描树的响应压缩器设计
混合信号集成电路自动测试设备的研究与实现
中小规模集成电路自动测试系统的研究与设计
基于FPGA的ICT在线测试仪硬件设计
ICT在线测试仪软件系统设计
基于遗传算法的自反馈测试生成方法研究
无关位在被测电路自己施加测试矢量方法中的研究与应用
基于树形向量解压缩器降低测试数据量的研究
基于扫描结构的低功耗测试方法研究
优化可靠性认证数据收集以加速新产品产量化进程
晶圆失效图形自动识别系统在ULSI良率管理中的应用研究
芯片组产品抽样老化和去除老化的实现
集成电路产品测试管理系统
SBL技术在集成电路封装测试过程中的应用
基于NOR LPDDR架构针对用低频测试仪测试高速芯片的DFT设计及实现
基于FPGA的综合自检验功能测试平台
65nm产品失效分析方法及良率的提升
芯片电热特性仿真模型及测试方法
C语言集成电路ATE应用程序的自动分析转换
光罩雾状缺陷检测频率的研究
V7数字测试机的模拟模块的设计
动态EMMI/OBIRCH检测IC失效热点的研究与应用
混合信号集成电路测试精度的优化方法
以太网控制器芯片的测试技术研究
基于动态电流信息的集成电路测试研究
集成电路IP质量管理与度量：软件工程角度的研究
基于片上网络的众核芯片关键测试技术研究
系统芯片测试应用时间最小化技术研究
基于边界扫描技术的电路板测试方法研究
高速集成电路测试板仿真与设计
ATE测试向量转换方法研究
功率裸芯片的老炼筛选技术研究
基于System Verilog的功能验证方法研究
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