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片上网络通讯结构可测性设计

摘要第1-6页
Abstract第6-9页
第一章 绪论第9-14页
   ·测试的概念和意义第9-10页
   ·可测性设计技术概述第10-13页
     ·故障检测的基本原理第10-12页
     ·可测性设计的方法第12-13页
   ·本论文结构第13-14页
第二章 集成电路测试技术第14-29页
   ·Ad-Hoc 可测性设计技术第14-15页
   ·边界扫描测试技术第15-16页
   ·嵌入式核测试技术第16-25页
     ·IEEE P1500 测试外壳的基本结构第17-18页
     ·测试外壳的指令第18-19页
     ·测试外壳串行端口(WSP)第19-20页
     ·测试外壳指令寄存器(WIR)第20-21页
     ·测试外壳旁路寄存器(WBY)第21页
     ·测试外壳边界寄存器(WBR)第21-24页
     ·IEEE P1500 测试体系第24-25页
   ·内建自测试技术第25-28页
     ·测试序列生成第26-27页
     ·测试响应分析第27-28页
   ·本章小结第28-29页
第三章 NoC 通讯结构及测试第29-43页
   ·NoC 通讯体系结构第29-31页
   ·路由开关间互连线测试第31-38页
     ·串扰测试模型第31-32页
     ·BIST 测试电路设计第32-38页
   ·路由开关逻辑测试第38-42页
     ·单播测试法第38-40页
     ·多播测试法第40-42页
   ·本章小结第42-43页
第四章 资源网络接口异步FIFO 设计及测试第43-56页
   ·竞争、冒险和亚稳态第43-45页
   ·异步FIFO 设计第45-51页
     ·异步FIFO 功能描述第45-47页
     ·异步FIFO 各部分设计第47-51页
     ·仿真结果第51页
   ·异步FIFO 测试第51-54页
     ·存储单元的隔离第51-52页
     ·异步FIFO 的测试结构第52-53页
     ·测试结果与分析第53-54页
   ·本章小结第54-56页
第五章 结束语第56-58页
致谢第58-59页
参考文献第59-62页
研究成果第62-63页

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