基于边界扫描的测试算法和BIST设计技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 引言 | 第9-14页 |
| ·课题的背景和意义 | 第9-10页 |
| ·边界扫描测试的基本原理 | 第10-11页 |
| ·国内外边界扫描测试发展现状和趋势 | 第11-13页 |
| ·本课题设计任务 | 第13-14页 |
| 第二章 边界扫描互连测试算法及应用 | 第14-36页 |
| ·互连结构和故障模型 | 第14-19页 |
| ·互连结构 | 第14-15页 |
| ·故障模型 | 第15-19页 |
| ·边界扫描测试数学模型 | 第19-22页 |
| ·边界扫描测试诊断方法和算法 | 第22-27页 |
| ·边界扫描的链路完整性和底层结构测试方法 | 第22-24页 |
| ·互连测试和诊断算法 | 第24-27页 |
| ·经典互连测试算法 | 第24-25页 |
| ·两种优化的互连测试算法 | 第25-27页 |
| ·边界扫描互连测试算法应用 | 第27-36页 |
| ·边界扫描测试流程 | 第27-28页 |
| ·边界扫描互连测试算法应用分析 | 第28-33页 |
| ·BST Demo1.0 BST完整性测试 | 第29-31页 |
| ·BST Demo1.0逻辑组互连测试 | 第31-32页 |
| ·电路板1.0的边界扫描互连测试 | 第32-33页 |
| ·实际应用电路板的可测性设计实例 | 第33-36页 |
| 第三章 基于边界扫描的BIST设计 | 第36-57页 |
| ·BIST基本原理 | 第36-37页 |
| ·测试策略的比较与选取 | 第37-42页 |
| ·测试矢量产生策略 | 第37-38页 |
| ·测试响应分析 | 第38-41页 |
| ·BIST控制器 | 第41页 |
| ·BIST方案确定 | 第41-42页 |
| ·BIST设计方法研究 | 第42-52页 |
| ·伪随机数据产生器设计 | 第42-49页 |
| ·伪随机数据产生原理 | 第42-43页 |
| ·LFSR结构分析与具体设计 | 第43-47页 |
| ·遍历型FSR设计 | 第47-48页 |
| ·加权伪随机序列发生器设计 | 第48-49页 |
| ·特征分析器设计 | 第49-50页 |
| ·BIST结构设计 | 第50-52页 |
| ·BIST设计实例 | 第52-56页 |
| ·每时钟扫描BIST结构设计 | 第52-53页 |
| ·每时钟测试BIST结构设计 | 第53-55页 |
| ·ASIC芯片BIST设计 | 第55-56页 |
| ·边界扫描确定性测试方法 | 第56-57页 |
| 第四章 结束语 | 第57-59页 |
| ·全文总结 | 第57-58页 |
| ·进一步的工作 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 个人简历、攻读硕士期间完成的论文及科研情况 | 第62-63页 |
| 附录 电路实物图 | 第63-64页 |
