基于寄存器传输级层次模型的测试生成研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-9页 |
| 第一章 引言 | 第9-19页 |
| ·研究背景 | 第9-11页 |
| ·研究现状 | 第11-15页 |
| ·论文的主要内容 | 第15-17页 |
| ·论文的组织结构 | 第17-19页 |
| 第二章 集成电路测试与设计验证 | 第19-39页 |
| ·集成电路测试 | 第20-23页 |
| ·功能测试和结构测试 | 第20-22页 |
| ·相关概念 | 第22-23页 |
| ·测试生成算法 | 第23-34页 |
| ·组合电路测试生成算法 | 第24-28页 |
| ·时序电路测试生成算法 | 第28-30页 |
| ·可测试性设计 | 第30-34页 |
| ·设计验证 | 第34-38页 |
| ·形式化方法 | 第34-35页 |
| ·基于模拟的方法 | 第35-36页 |
| ·半形式化方法 | 第36-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第三章 高层次测试生成 | 第39-59页 |
| ·硬件描述语言 | 第40-45页 |
| ·产生背景 | 第40-41页 |
| ·语言特性 | 第41-45页 |
| ·RTL 级描述 | 第45-49页 |
| ·语法、语义限制 | 第45-46页 |
| ·进程分析 | 第46-49页 |
| ·高层次测试 | 第49-57页 |
| ·研究起因 | 第49-50页 |
| ·方法概述 | 第50-56页 |
| ·发展前景 | 第56-57页 |
| ·本文的测试生成系统 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第四章 电路模型 | 第59-68页 |
| ·已有的电路模型 | 第59-60页 |
| ·控制流图/数据流图模型 | 第60-66页 |
| ·预处理 | 第61页 |
| ·数据结构 | 第61-62页 |
| ·描述能力 | 第62-63页 |
| ·VRM 模型 | 第63-66页 |
| ·相关概念 | 第66-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 第五章 时序测度 | 第68-77页 |
| ·静态时序深度 | 第68-73页 |
| ·语句静态时序深度 | 第69-71页 |
| ·算法步骤 | 第71-73页 |
| ·动态时序深度 | 第73-76页 |
| ·语句动态时序深度 | 第74-75页 |
| ·算法步骤 | 第75-76页 |
| ·本章小结 | 第76-77页 |
| 第六章 RTL 测试生成算法 | 第77-97页 |
| ·算法概述 | 第77-78页 |
| ·算法辅助信息 | 第78-86页 |
| ·电路参数提取 | 第78-80页 |
| ·数据相关、控制相关 | 第80-81页 |
| ·可观信息 | 第81-83页 |
| ·层次化处理 | 第83-86页 |
| ·测试用例生成算法 | 第86-95页 |
| ·概述 | 第86-87页 |
| ·主驱动过程 | 第87-92页 |
| ·重引导过程 | 第92-94页 |
| ·算法终止条件 | 第94-95页 |
| ·测试序列生成 | 第95页 |
| ·本章小结 | 第95-97页 |
| 第七章 实验系统与结果分析 | 第97-103页 |
| ·实验方案 | 第97-98页 |
| ·实验结果 | 第98-100页 |
| ·分析对比 | 第100-102页 |
| ·本章小结 | 第102-103页 |
| 第八章 结束语 | 第103-106页 |
| ·本文主要贡献与创新 | 第103-104页 |
| ·下一步研究工作 | 第104-106页 |
| 参考文献 | 第106-117页 |
| 附录I VRM 模型的结点表示 | 第117-120页 |
| 附录II VRM 模型结点语句格式 | 第120-125页 |
| 作者简历 | 第125页 |
| 攻读博士学位期间发表的论文 | 第125-126页 |
| 致谢 | 第126页 |
