| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 引言 | 第9-15页 |
| §1.1 工作背景 | 第9-10页 |
| §1.2 集成电路测试基础 | 第10-12页 |
| §1.2.1 集成电路典型测试过程 | 第10-11页 |
| §1.2.2 集成电路测试内容 | 第11-12页 |
| §1.2.3 集成电路测试模式 | 第12页 |
| §1.3 集成电路测试系统简介 | 第12-13页 |
| §1.4 论文的主要工作和论文结构 | 第13-15页 |
| 第二章 测试系统分析及异构、并行思想的提出 | 第15-27页 |
| §2.1 测试系统类型和结构分析 | 第15-21页 |
| §2.1.1 台式(Benchtop)ATE | 第15-17页 |
| §2.1.2 专用型ATE | 第17-19页 |
| §2.1.3 通用型ATE测试系统 | 第19-21页 |
| §2.2 传统测试系统的应用局限性 | 第21页 |
| §2.3 异构、并行思想的提出 | 第21-26页 |
| §2.3.1 实时测试与数据处理的关系 | 第21-23页 |
| §2.3.2 进一步提高系统性能的思路—异构并行 | 第23-26页 |
| §2.3.2.1 并行概念的讨论 | 第23页 |
| §2.3.2.2 并行测试 | 第23-24页 |
| §2.3.2.3 异构并行思想的分析 | 第24-26页 |
| §2.4 新型系统的优势 | 第26页 |
| §2.5 小结 | 第26-27页 |
| 第三章 异构并行测试系统的硬件架构 | 第27-39页 |
| §3.1 模块化的硬件结构 | 第27-28页 |
| §3.2 数据通信机制概述 | 第28-31页 |
| §3.3 异构并行测试系统的硬件架构分析 | 第31-38页 |
| §3.3.1 总体框架分析 | 第31页 |
| §3.3.2 子测试仪的模块化结构 | 第31-32页 |
| §3.3.3 系统通信线路构成方式 | 第32-38页 |
| §3.3.3.1 串行总线结构 | 第33-34页 |
| §3.3.3.2 以多路通信控制器为中介的串行总线结构 | 第34-35页 |
| §3.3.3.3 基于CSMA／CD的串行总线结构 | 第35-38页 |
| §3.4 小结 | 第38-39页 |
| 第四章 异构并行测试系统的软件支撑环境 | 第39-53页 |
| §4.1 模块化的软件结构 | 第39-40页 |
| §4.2 测试软件系统的关键技术 | 第40-48页 |
| §4.2.1 面向对象技术 | 第40-45页 |
| §4.2.1.1 面向对象简介 | 第41-42页 |
| §4.2.1.2 面向对象方法在异构并行测试系统中的应用 | 第42-45页 |
| §4.2.2 多线程机制 | 第45-48页 |
| §4.2.2.1 基本概念 | 第46-47页 |
| §4.2.2.2 在测试系统中的应用 | 第47-48页 |
| §4.3 测试软件系统结构 | 第48-52页 |
| §4.3.1 基于Client／Server结构的两级交互模式 | 第48-49页 |
| §4.3.2 子测试仪的软件结构 | 第49-50页 |
| §4.3.3 主机软件系统结构 | 第50-52页 |
| §4.4 小结 | 第52-53页 |
| 第五章 系统实现——ICT12—2000测试系统举例 | 第53-60页 |
| §5.1 ICT12—2000测试系统的系统结构 | 第53-56页 |
| §5.1.1 系统的组成 | 第53-54页 |
| §5.1.2 子测试仪举例——7879系列测试仪 | 第54-55页 |
| §5.1.3 系统的通信连接方式 | 第55-56页 |
| §5.2 友好的界面 | 第56-58页 |
| §5.3 系统运行及应用前景 | 第58-60页 |
| 第六章 结束语 | 第60-62页 |
| §6.1 结论 | 第60-61页 |
| §6.2 存在问题及今后工作 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-63页 |
| 作者简历 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64页 |
