第一章 绪论 | 第1-11页 |
·微控制器概述 | 第8页 |
·Motorola M68HC08系列微控制器概述 | 第8-9页 |
·FLASH测试器的设计意义 | 第9-10页 |
·FLASH测试器的基本设计思想 | 第10页 |
·本论文的任务 | 第10-11页 |
第二章 FLASH测试器基础 | 第11-30页 |
·存储器测试基础 | 第11-17页 |
·测试简介 | 第11页 |
·半导体存储器的失效方式 | 第11-12页 |
·IC存储器功能测试说明 | 第12-14页 |
·功能测试图案说明 | 第14-16页 |
·集成电路测试器的发展 | 第16-17页 |
·MC68HC08系列微控制器概述 | 第17-19页 |
·MC68HC08系列微控制器的主要特点 | 第17-18页 |
·CPU08的特性 | 第18页 |
·MC68HC908RF2 概述 | 第18-19页 |
·MC68HC908RF2的监控模式 | 第19-23页 |
·监控模式的特性 | 第19-20页 |
·监控模式的各项功能 | 第20-23页 |
·MC68HC908RF2的FLASH Memory | 第23-30页 |
·FLASH存储器概述 | 第23-24页 |
·MC68HC908RF2的FLASH存储器的特性 | 第24-25页 |
·FLASH存储器的编程和擦除操作 | 第25-27页 |
·微控制器内嵌的FLASH编程和擦除例程 | 第27-30页 |
第三章 FLASH测试器硬件电路的设计 | 第30-44页 |
·FLASH测试器硬件电路整体说明 | 第30页 |
·通信端口及电路说明 | 第30-39页 |
·通讯方式的选择 | 第31-33页 |
·连接器的选择 | 第33-34页 |
·RS-232电路的实现说明 | 第34-35页 |
·RS-485电路的实现说明 | 第35-37页 |
·通信端口数据传输协议的设定 | 第37-39页 |
·电源芯片及电路说明 | 第39-41页 |
·9V-5V电压调整芯片选择 | 第39页 |
·5V-3.3V电压调整芯片选择 | 第39-40页 |
·电源及稳定电压设计 | 第40-41页 |
·硬件电路具体设计说明 | 第41-44页 |
·母板和子板设计说明 | 第41-42页 |
·各项开关设计说明 | 第42-43页 |
·指示灯设计说明 | 第43-44页 |
第四章 FLASH测试器软件功能说明 | 第44-56页 |
·软件功能总体说明 | 第44页 |
·软件菜单功能介绍 | 第44-55页 |
·文件菜单 | 第44页 |
·编辑菜单 | 第44-45页 |
·视图菜单 | 第45-46页 |
·FLASH操作菜单 | 第46-50页 |
·相关操作菜单 | 第50-53页 |
·其他测试菜单 | 第53-55页 |
·窗口菜单 | 第55页 |
·帮助菜单 | 第55页 |
·其它功能说明 | 第55-56页 |
第五章 FLASH测试器软件设计说明 | 第56-68页 |
·软件设计概述 | 第56页 |
·通信功能说明 | 第56-57页 |
·串口通信的工作原理 | 第56-57页 |
·通信程序说明 | 第57页 |
·FLASH操作程序设计说明 | 第57-63页 |
·编程子程序的设计 | 第57-60页 |
·擦除子程序的设计 | 第60-63页 |
·读取子程序的设计 | 第63页 |
·空片检查子程序的设计 | 第63页 |
·输入FLASH密码子程序的设计 | 第63页 |
·S19文件程序设计说明 | 第63-66页 |
·S19文件格式说明 | 第63-65页 |
·向微控制器写入S19文件的设计 | 第65页 |
·组合测试文件的设计 | 第65-66页 |
·调试问题总结 | 第66-68页 |
第六章 FLASH测试器软件设计说明 | 第68-76页 |
·实验概述 | 第68页 |
·LED测试实验 | 第68页 |
·存储器测试实验 | 第68-76页 |
·存储器结构简介及失效模式分析 | 第68-69页 |
·典型FLASH的测试说明 | 第69-73页 |
·典型RAM测试说明 | 第73-74页 |
·伪随机存储器测试(Pseudo-random test) | 第74-76页 |
参考文献 | 第76-79页 |
发表论文和参加科研情况说明 | 第79-80页 |
致谢 | 第80页 |