| 第一章 绪论 | 第1-19页 |
| ·可测试性 | 第13页 |
| ·电路测试及诊断技术的发展 | 第13-15页 |
| ·数字电路系统的测试和故障诊断 | 第14页 |
| ·模拟电路及数模混合电路的测试现状 | 第14-15页 |
| ·故障诊断技术的发展概况 | 第15-16页 |
| ·离散事件系统理论 | 第16-17页 |
| ·离散事件 | 第16-17页 |
| ·离散事件动态系统 | 第17页 |
| ·本课题的来源及现状 | 第17-18页 |
| ·本课题研究的主要内容 | 第18-19页 |
| 第二章 基于DES理论的可测试性分析与故障诊断 | 第19-33页 |
| ·离散事件系统理论对模数混合电路进行可测性分析的理论依据 | 第19-23页 |
| ·应用离散事件系统理论对模数混合电路进行建模 | 第19页 |
| ·离散事件系统理论对数模混合电路进行可测试性分析 | 第19-21页 |
| ·最小测试集及相关定理 | 第21-22页 |
| ·最好可测分区infD(T) | 第22-23页 |
| ·验证性试验 | 第23-30页 |
| ·数字电路 | 第23-26页 |
| ·模拟电路 | 第26-30页 |
| ·基于图论的最小测试集的求取和故障诊断 | 第30-33页 |
| 第三章 电路测试分析及故障诊断系统 | 第33-38页 |
| ·电路测试诊断系统概述 | 第33页 |
| ·系统的硬件组成 | 第33-37页 |
| ·系统的总体框图 | 第33-34页 |
| ·系统的硬件组成 | 第34页 |
| ·可编程逻辑器件CPLD | 第34-37页 |
| ·系统的软件部分 | 第37-38页 |
| 第四章 电路测试系统的软件实现 | 第38-54页 |
| ·系统软件实现概述 | 第38-43页 |
| ·转移函数的获取 | 第43-45页 |
| ·软件功能的实现 | 第45-50页 |
| ·可测性分析 | 第45-48页 |
| ·最小测试集的寻找 | 第48-49页 |
| ·快速电路故障检测 | 第49-50页 |
| ·故障诊断 | 第50页 |
| ·数据库的开发 | 第50-54页 |
| ·BCB中数据库的建设 | 第51-53页 |
| ·故障诊断结果的查询与显示 | 第53-54页 |
| 第五章 总结与展望 | 第54-60页 |
| ·对本课题的总结 | 第54-55页 |
| ·对未来的展望 | 第55-60页 |
| ·自动测试系统 | 第55-56页 |
| ·新型的故障字典法 | 第56-57页 |
| ·可测性设计 | 第57-60页 |
| 参考文献 | 第60-63页 |
| 读硕士期间发表文章清单 | 第63-64页 |