| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·论文的起源 | 第7-10页 |
| ·研究前沿 | 第10页 |
| ·论文构成 | 第10-11页 |
| 第二章 PCL 基本电路功能 | 第11-23页 |
| ·PCL 概述和SOC 中的PCL | 第11-12页 |
| ·基本端口逻辑电路概述 | 第12-15页 |
| ·上拉和下拉 | 第12-13页 |
| ·开漏和推挽控制 | 第13-15页 |
| ·PCL 原理 | 第15-17页 |
| ·边界扫描 | 第17-19页 |
| ·JTAG 边界扫描概述 | 第17页 |
| ·边界扫描的作用 | 第17-18页 |
| ·边界扫描的实际应用 | 第18-19页 |
| ·信号检测 | 第19-22页 |
| ·信号检测的逻辑构成及设计 | 第19-22页 |
| ·信号检测的JTAG 工作模式 | 第22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 PAD 的设计 | 第23-31页 |
| ·PAD 概述 | 第23-24页 |
| ·PAD 的设计实现 | 第24-30页 |
| ·上拉逻辑 | 第24-25页 |
| ·下拉逻辑 | 第25-26页 |
| ·输出逻辑 | 第26-28页 |
| ·输入逻辑 | 第28-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第四章 PCL 的设计 | 第31-45页 |
| ·功能模式下的PCL 设计 | 第31-37页 |
| ·总线接口逻辑 | 第32-33页 |
| ·输入输出处理 | 第33-37页 |
| ·边界扫描逻辑设计 | 第37-43页 |
| ·扫描单元的构成 | 第37-39页 |
| ·扫描单元的应用 | 第39-43页 |
| ·本章小结 | 第43-45页 |
| 第五章 PCL 的验证 | 第45-69页 |
| ·PCL 的验证内容 | 第45-46页 |
| ·输入输出验证 | 第45页 |
| ·上拉下拉验证 | 第45页 |
| ·多路信号通道控制电路验证 | 第45-46页 |
| ·信号检测电路验证 | 第46页 |
| ·边界扫描验证 | 第46页 |
| ·验证环境 | 第46-49页 |
| ·分层验证环境的搭建 | 第46-47页 |
| ·测试平台的搭建 | 第47-48页 |
| ·外部总线接口 | 第48-49页 |
| ·基于IOC 的PCL 验证 | 第49-56页 |
| ·输入输出控制器TBE 简介 | 第49-51页 |
| ·基于IOC 的输入输出验证 | 第51-53页 |
| ·仿真和结论 | 第53-56页 |
| ·基于构建测试寄存器模拟PAD 的PCL 验证 | 第56-60页 |
| ·上拉和下拉验证 | 第57页 |
| ·输入模式验证 | 第57-58页 |
| ·输出模式验证 | 第58-59页 |
| ·验证综合 | 第59-60页 |
| ·信号检测的验证 | 第60-63页 |
| ·边界扫描的验证 | 第63-68页 |
| ·JTAG 边界扫描（ BOUNDARY SCAN ）接口 | 第63-64页 |
| ·JTAG 边界扫描下的测试种类 | 第64-68页 |
| ·本章小结 | 第68-69页 |
| 第六章 结束语 | 第69-71页 |
| 致谢 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-75页 |
| 研究成果 | 第75-77页 |
| 附录A：英飞凌通信解决方案片上系统芯片照片 | 第77-78页 |
| 附录B：英飞凌验证软件平台“XMCU_SIM”和“SIMFAB” | 第78-79页 |
| 附录C：作者参与开发和搭建的端口模拟测试平台TBE | 第79-81页 |
