混合信号电路故障诊断的内建自测试（BIST）方法研究
| 摘 要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-10页 |
| 目 录 | 第10-13页 |
| 第一章 绪 论 | 第13-26页 |
| ·研究的背景和意义 | 第13-15页 |
| ·混合信号的测试方法 | 第15-18页 |
| ·混合信号测试的基本配置 | 第15-16页 |
| ·混合信号测试的BIST方法 | 第16-18页 |
| ·国外研究现状 | 第18-22页 |
| ·可测性分析和可测性设计的研究现状 | 第18-19页 |
| ·测试激励信号生成的研究现状 | 第19-20页 |
| ·混合信号测试方法的研究现状 | 第20-22页 |
| ·国内研究现状 | 第22-23页 |
| ·本文的主要工作及结构安排 | 第23-26页 |
| 第二章 模拟电路的可测性分析 | 第26-47页 |
| ·可测性测度的定义 | 第26页 |
| ·可测性测度的计算 | 第26-34页 |
| ·行列式判决图的建立 | 第34-36页 |
| ·实验电路 | 第36-39页 |
| ·提高电路可测性的措施 | 第39-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第三章 片上测试激励信号的生成 | 第47-72页 |
| ·概述 | 第47页 |
| ·调制的原理 | 第47-53页 |
| ·二阶 调制 | 第49-51页 |
| ·高阶 调制 | 第51-53页 |
| ·无失真离散积分(LDI)振荡器 | 第53-57页 |
| ·高阶 调制器的设计 | 第57-66页 |
| ·高阶 调制器的级联实现 | 第58-62页 |
| ·高阶 调制器的梯级实现 | 第62-66页 |
| ·单一频率的片上测试激励信号生成 | 第66-70页 |
| ·多个频率的片上测试激励信号生成 | 第70-71页 |
| ·本章小结 | 第71-72页 |
| 第四章 模拟电路故障的可测性测试 | 第72-104页 |
| ·概述 | 第72页 |
| ·正则模糊组的确定 | 第72-81页 |
| ·线性组合矩阵的计算 | 第73-75页 |
| ·正则模糊组的确定 | 第75-77页 |
| ·实验电路 | 第77-81页 |
| ·被测电路的可测性设计 | 第81-83页 |
| ·模拟电路的多故障诊断 | 第83-103页 |
| ·低可测性电路的多故障诊断 | 第83-92页 |
| ·被测电路频率响应的计算 | 第83-84页 |
| ·故障诊断方程的建立 | 第84-87页 |
| ·多故障定位 | 第87-88页 |
| ·实验电路 | 第88-92页 |
| ·纯电阻网络的多故障诊断 | 第92-103页 |
| ·测试验证方程的建立 | 第92-96页 |
| ·多故障定位 | 第96-98页 |
| ·实验电路 | 第98-103页 |
| ·本章小结 | 第103-104页 |
| 第五章 混合信号电路测试中的约束条件分析 | 第104-108页 |
| ·概述 | 第104页 |
| ·约束条件分析 | 第104-105页 |
| ·实验电路 | 第105-107页 |
| ·本章小结 | 第107-108页 |
| 第六章 结束语 | 第108-111页 |
| ·本文的主要结论 | 第108-110页 |
| ·进一步的工作 | 第110-111页 |
| 参考文献 | 第111-123页 |
| 致谢 | 第123-124页 |
| 个人简历、攻读博士学位期间完成的论文及科研情况 | 第124-125页 |
